[发明专利]一种实现射频开关杂散测试的系统有效
| 申请号： | 201810374911.9 | 申请日： | 2018-04-24 |
| 公开（公告）号： | CN110401459B | 公开（公告）日： | 2021-06-01 |
| 发明（设计）人： | 刘世龙 | 申请（专利权）人： | 摩比天线技术(深圳)有限公司;摩比通讯技术（吉安）有限公司;摩比科技（西安）有限公司;摩比科技（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | H04B1/00 | 分类号： | H04B1/00;H04L5/14;H04B17/15 |
| 代理公司： | 深圳市隆天联鼎知识产权代理有限公司 44232 | 代理人： | 刘抗美 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明揭示了一种实现射频开关杂散测试的系统，包括双工器、射频开关、信号源和频谱仪，其中，双工器将所述信号源输出的发射信号传输至射频开关，射频开关在开关状态切换时根据发射信号产生反射信号，并由双工器将反射信号传输至频谱仪，频谱仪根据反射信号测试射频开关在开关状态切换时产生的杂散。通过使用双工器配合频谱仪和信号源来测试射频开关在开关状态切换时产生的杂散，不需要使用其他测试杂散的专用设备，系统结构简单，搭建方便，便于技术人员测试射频开关的杂散。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 实现 射频 开关 测试 系统 | ||
【主权项】：
1.一种实现射频开关杂散测试的系统，其特征在于，包括双工器、射频开关、信号源和频谱仪，其中，所述双工器将所述信号源输出的发射信号传输至所述射频开关，所述射频开关在开关状态切换时根据所述发射信号产生反射信号，并由所述双工器将所述反射信号传输至所述频谱仪，所述频谱仪根据所述反射信号测试所述射频开关在开关状态切换时产生的杂散。
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