[发明专利]应用程序启动时长测试方法、装置、电子设备及存储介质在审
申请号: | 201810381776.0 | 申请日: | 2018-04-25 |
公开(公告)号: | CN108733561A | 公开(公告)日: | 2018-11-02 |
发明(设计)人: | 信希;刘燚 | 申请(专利权)人: | 北京五八信息技术有限公司 |
主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 杨泽;刘芳 |
地址: | 100080 北京市海淀区学清*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本申请提供一种应用程序启动时长测试方法、装置、电子设备及存储介质,其中,该方法应用于预置测试框架中,该方法包括:启动待测试应用程序,并记录该待测试应用程序的启动起始时间和启动结束时间,该启动结束时间为待测试应用程序的首页数据加载完成时的时间,根据该启动起始时间和该启动结束时间,确定待测试应用程序的启动时长。该技术方案的测试流程完整,能够自动、高效、精确、快速得到应用程序的启动时长,解决了现有手动测试方法依赖测试者、测试数据容易出现误差及无法完成大量测试的问题。 | ||
搜索关键词: | 测试应用程序 时长 测试 应用程序启动 存储介质 电子设备 测试流程 测试数据 手动测试 应用程序 预置测试 完成时 页数据 加载 记录 申请 | ||
【主权项】:
1.一种应用程序启动时长测试方法,其特征在于,应用于预置测试框架中,所述方法包括:启动待测试应用程序,并记录所述待测试应用程序的启动起始时间和启动结束时间,所述启动结束时间为所述待测试应用程序的首页数据加载完成时的时间;根据所述启动起始时间和所述启动结束时间,确定所述待测试应用程序的启动时长。
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