[发明专利]磁场强度测量装置及方法在审
| 申请号： | 201810382184.0 | 申请日： | 2018-04-25 |
| 公开（公告）号： | CN108693490A | 公开（公告）日： | 2018-10-23 |
| 发明（设计）人： | 丁冬生;李恩泽;史保森;郭光灿 | 申请（专利权）人： | 中国科学技术大学 |
| 主分类号： | G01R33/032 | 分类号： | G01R33/032 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 张宇园 |
| 地址： | 230026 安*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 一种磁场强度测量装置和测量方法，其中测量装置包括：激光器，用于产生激光光束；第一偏振组件，供激光光束通过，形成45度偏振的线性偏振光；Sagnac干涉仪，用于供所述线性偏振光射入形成干涉；第二偏振组件，从Sagnac干涉仪射出的干涉光进入该第二偏振组件后形成左旋圆偏振光和右旋圆偏振光；铷原子蒸气室，配置为位于待测磁场强度的磁场中，用于供由第二四分之一波片射出的左旋圆偏振光和右旋圆偏振光通过；第一偏振分束器，供从铷原子蒸气室射出的偏振光通过；摄像机，检测从偏振分数器射出的偏振光所形成的干涉图案。本发明了提供的磁场强度测量装置利用轨道角动量对称光束来精确测量弱磁场强度。 | ||
| 搜索关键词： | 偏振 磁场强度测量 射出 偏振光 右旋圆偏振光 左旋圆偏振光 线性偏振光 激光光束 蒸气室 铷原子 磁场 四分之一波片 测量弱磁场 轨道角动量 偏振分束器 测量装置 对称光束 干涉图案 激光器 干涉光 器射 射入 摄像机 测量 干涉 检测 配置 | ||
【主权项】：
1.一种磁场强度测量装置，其特征在于包括：激光器，用于产生激光光束；第一偏振组件，供激光光束通过，形成45度偏振的线性偏振光；Sagnac干涉仪，用于供所述线性偏振光射入形成干涉；第二偏振组件，从Sagnac干涉仪射出的干涉光进入该第二偏振组件后形成左旋圆偏振光和右旋圆偏振光；铷原子蒸气室，配置为位于待测磁场强度的磁场中，用于供由第二四分之一波片射出的左旋圆偏振光和右旋圆偏振光通过；第一偏振分束器，供从铷原子蒸气室射出的偏振光通过；摄像机，检测从偏振分数器射出的偏振光所形成的干涉图案。
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