[发明专利]一种PID控制系统的参数自整定方法在审

专利信息
申请号: 201810382190.6 申请日: 2018-04-14
公开(公告)号: CN108490762A 公开(公告)日: 2018-09-04
发明(设计)人: 张得佳 申请(专利权)人: 温州职业技术学院
主分类号: G05B11/42 分类号: G05B11/42
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 325006 浙江省温州市瓯海*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种PID控制系统的参数自整定方法。涉及PID控制系统的参数自整定技术领域。包括将N组PID控制器参数投入到系统中仿真运行,计算PID控制器输出值;分别计算N组PID控制器参数对应控制系统的性能指标;比较N组性能指标选择最优性能指标对应的PID控制器参数组为待测参数组;根据待测参数组在系统中仿真运行获取最优PID控制器参数组。本发明在三维维空间M中产生N个PID控制器参数且通过仿真运行并计算控制系统的性能指标,通过控制系统的性能指标的最优值获取PID控制器参数,提高了不同控制系统中PID控制器参数确认的效率。
搜索关键词: 参数组 参数自整定 仿真运行 控制系统 计算控制系统 性能指标选择 最优性能指标 参数确认 输出
【主权项】:
1.一种PID控制系统的参数自整定方法,其特征在于,包括如下步骤:S000:确定PID控制器待整定参数比例系数Kp,积分系数Ki和微分系数Kd的可行范围;S001:根据控制系统的复杂程度确定寻优三维集合M;S002:在三维维空间M中按预定等差值Dp、Di、Dd产生N个个体,每个个体对应一组可行的PID控制器参数;S003:将N组PID控制器参数投入到系统中仿真运行,计算PID控制器输出值为:其中,u(n)表示PID控制器输出,n为采样序号,T为采样周期;S004:分别计算N组PID控制器参数对应控制系统的性能指标:其中,e(k)为控制系统的输出误差;u(k)为PID控制器输出值;T为采样周期;S005:比较N组性能指标选择最优性能指标对应的PID控制器参数组为待测参数组;S006:根据待测参数组在系统中仿真运行获取最优PID控制器参数组。
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