[发明专利]霍尔器件制备方法及霍尔器件在审

专利信息
申请号: 201810386678.6 申请日: 2018-04-26
公开(公告)号: CN108767108A 公开(公告)日: 2018-11-06
发明(设计)人: 钟青;王雪深;李劲劲;钟源 申请(专利权)人: 中国计量科学研究院
主分类号: H01L43/04 分类号: H01L43/04;H01L43/06;H01L43/14
代理公司: 北京华进京联知识产权代理有限公司 11606 代理人: 赵永辉
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本申请提供一种霍尔器件制备方法及霍尔器件,通过霍尔器件制备方法获得的霍尔器件,在GaAs衬底表面上直接光刻电极图形,沉积金属层,使得金属材料与二维电子气结构层接触,形成所述多个金属电极。然后,通过对制备有多个金属电极的GaAs衬底放置于保护气中退火,使得GaAs衬底表面与二维电子气结构层形成良好的欧姆接触。最后,用划片机沿着多个金属电极的外侧切出霍尔器件。霍尔器件没有霍尔棒结构,使得霍尔器件具有相对较大的临界电流。同时,通过图案化的掩膜层可以使得在进行光刻时,确保多个金属电极的精确对称。并且,霍尔器件制备方法由于减少了化学腐蚀霍尔棒的工艺步骤,使得GaAs衬底表面与二维电子气结构层的欧姆接触电阻的成功率达到100%。
搜索关键词: 霍尔器件 制备 金属电极 二维电子气 衬底表面 结构层 霍尔 退火 欧姆接触电阻 沉积金属层 金属材料 电极图形 工艺步骤 化学腐蚀 临界电流 欧姆接触 棒结构 保护气 划片机 图案化 掩膜层 直接光 衬底 光刻 切出 成功率 对称 申请
【主权项】:
1.一种霍尔器件制备方法,其特征在于,包括:S10,提供一个GaAs基底(110);S20,在所述GaAs基底(110)的表面生长二维电子气结构层(120),形成具有所述二维电子气结构层(120)的GaAs衬底(10),所述GaAs衬底(10)具有GaAs衬底表面(130);S30,提供图案化的掩膜层(40),并以所述掩膜层(40)为遮挡,在所述GaAs衬底表面(130)形成多个电极窗口(50);S40,在所述多个电极窗口(50)中,沉积金属材料,形成金属电极层(601);以及S50,将制备有所述金属电极层(601)的所述GaAs衬底(10)放置于保护气中,在温度400℃~500℃下,退火30秒~80秒,使所述GaAs衬底表面(130)与所述二维电子气结构层(20)的欧姆接触,形成多个金属电极(60),制备出霍尔器件(100)。
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