[发明专利]烧蚀参数测量装置及方法有效
| 申请号： | 201810391082.5 | 申请日： | 2018-04-27 |
| 公开（公告）号： | CN108572182B | 公开（公告）日： | 2020-04-24 |
| 发明（设计）人： | 冯雪;朱相宇;唐云龙;岳孟坤;方旭飞 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04;G01N23/083 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 100084*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开涉及一种烧蚀参数测量装置及方法。所述装置包括：固定组件，用于固定试件；火焰喷射组件，用于对试件进行烧蚀；射线发射组件，设置在试件的一侧，用于向试件发射射线；射线探测组件，设置在所述试件的另一侧，用于获取试件在射线的照射下产生的透射图像；处理组件，用于根据透射图像，确定所述烧蚀参数。根据本公开的实施例的烧蚀参数测量装置，通过固定组件对试件进行固定并对试件进行烧蚀，同时通过对烧蚀中的试件的透射图像进行分析来确定烧蚀参数，能够实现烧蚀参数的在线测量，并且受环境干扰较小，测量误差较小。 | ||
| 搜索关键词： | 参数 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种烧蚀参数测量装置，其特征在于，包括：固定组件、射线发射组件、射线探测组件、火焰喷射组件和处理组件，所述固定组件用于固定试件；所述火焰喷射组件用于对所述试件进行烧蚀；所述射线发射组件设置在所述试件的一侧，用于向所述试件发射射线；所述射线探测组件设置在所述试件的另一侧，用于获取所述试件在所述射线的照射下产生的透射图像；所述处理组件用于根据所述透射图像，确定所述试件的烧蚀参数。
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