[发明专利]岩石微纳米孔隙的扫描电镜成像方法在审
| 申请号： | 201810391119.4 | 申请日： | 2018-04-27 |
| 公开（公告）号： | CN108414423A | 公开（公告）日： | 2018-08-17 |
| 发明（设计）人： | 李娜;钟婷;李彦超;杜林;刘伟 | 申请（专利权）人： | 成都理工大学 |
| 主分类号： | G01N15/08 | 分类号： | G01N15/08;G01N23/2251;B22F9/24;B22F1/00 |
| 代理公司： | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人： | 肖丽 |
| 地址： | 610000 四川*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种贵金属纳米粒子标记的岩石微纳米孔隙的扫描电镜成像分析方法以及其专属的纳米粒子及其制备方法，该成像方法包括：将贵金属纳米粒子注入岩石的裂缝和孔隙中，对贵金属纳米粒子充填的岩石孔隙扫描电镜成像。该纳米粒子探针的制备方法包括：利用还原剂对贵金属盐进行还原。将还原剂和贵金属盐的溶液混合后进行反应，再离心分离。利用贵金属纳米粒子作为孔隙探针，能够地真实的反映出岩石的微纳米孔隙结构，目标区域准确而直观，并且其制样简单、放大倍数可调、范围宽、图像的分辨率高，其操作简单方便，对仪器精度要求较低，解决了目前扫描电镜无法准确识别岩石微纳米孔隙的技术难题。 | ||
| 搜索关键词： | 贵金属纳米粒子 扫描电镜 微纳米 岩石 成像 贵金属盐 还原剂 制备 纳米粒子探针 成像分析 技术难题 精度要求 孔隙结构 目标区域 纳米粒子 溶液混合 岩石孔隙 分辨率 充填 可调 探针 制样 裂缝 还原 放大 直观 图像 | ||
【主权项】：
1.一种岩石微纳米孔隙的扫描电镜成像方法，其特征在于，其包括：将贵金属纳米粒子注入岩石的裂缝和孔隙中；对所述贵金属纳米粒子充填的岩石孔隙扫描电镜成像。
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