[发明专利]一种灰体辐射率的测量方法

摘要

一种灰体辐射率的测量方法，它涉及一种灰体辐射率的测定技术领域。它通过光谱辐射的波长探测物体的热辐射温度，来测量辐射率，包含如下步骤：提出灰体的热辐射表达公式；在相同的温度下，用光谱辐射的波长分别测量灰体的辐射温度，解出系数u1，u2的值；将系数u1，u2的值代入灰体的热辐射表达公式，得到灰体的辐射波长与温度的对应关系；根据灰体的物理模型得出实际物体在此温度下的辐射率。采用上述技术方案后，本发明有益效果为：能够在特殊的条件以及恶劣环境下，抵抗灰尘和雾气的干扰，能够对被测物体实际情况，设计出相应的测温方案，实现温度的自动控制，能够应用于广泛的领域，特别是高精度的领域，具有极大优越性。

主权项

1.一种灰体辐射率的测量方法，其特征在于它通过光谱辐射的波长探测物体的热辐射温度，来测量辐射率，包含如下步骤：步骤1、提出灰体的热辐射表达公式：其中，φ(λ，T)为黑体辐射光谱功率密度，λ为辐射波长，T为灰体的温度，K为第二辐射常数，λ为光谱辐射的波长，C为光速，h为普朗克常数；步骤2、在相同的温度下，用光谱辐射的波长分别测量灰体的辐射温度，解出系数u1，u2的值；步骤3、将系数u1，u2的值代入灰体的热辐射表达公式：中，就可以得到灰体的辐射波长与温度的对应关系；步骤4、根据灰体的物理模型B_idA_i＝E_idA_i+R_i∫_jB_jF_jidA_j，得出实际物体在此温度下的辐射率，其中Bi是面片i的辐射度，Ei是发射的能量，Ri是面片的反射系数，和入射能量(从其他面片来的能量)相乘得到反射能量，所有绘制环境中的j(j不等于i)对于BjFjidAj积分，得到离开每个面片j并到达面片i的能量，Fji是面片i和面片j的几何关系决定的常数波形系数。