[发明专利]一种双通道大孔径静态干涉成像光谱仪有效

专利信息
申请号: 201810392660.7 申请日: 2018-04-27
公开(公告)号: CN108613742B 公开(公告)日: 2021-01-01
发明(设计)人: 才啟胜;刘怡轩;黄旻;方煜;路向宁;韩炜 申请(专利权)人: 中国科学院光电研究院
主分类号: G01J3/45 分类号: G01J3/45;G01J3/02
代理公司: 北京凯特来知识产权代理有限公司 11260 代理人: 郑立明;郑哲
地址: 100080 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种双通道大孔径静态干涉成像光谱仪,将Sagnac干涉仪中的一个平面反射镜替换为直角反射镜,光线经过直角反射镜反射后,在垂直纸面方向(Z方向)上产生一个偏移量,使经过干涉仪后出射的光线与入射光线偏离开,从而在干涉仪的分束器两端均可进行干涉信息的采集,具有双通道探测的特点。本发明的突出优点是完全利用了入射光能量,提高了系统的能量利用率,可以实现双通道同时探测。
搜索关键词: 一种 双通道 孔径 静态 干涉 成像 光谱仪
【主权项】:
1.一种双通道大孔径静态干涉成像光谱仪,其特征在于,包括:准直镜、横向剪切干涉仪、第一与第二成像镜、第一与第二探测器,以及数据处理系统;其中:所述横向剪切干涉仪包括:分束器、平面反射镜和直角反射镜;物面S上的某点发出的光经过准直镜准直后成为平行光进入横向剪切干涉仪中,分束器将该平行光分为透射光和反射光两路,透射光依次经过平面反射镜与直角反射镜,在Z方向产生一个偏移量后返回分束器;反射光依次经过直角反射镜与平面反射镜,在Z方向产生一个偏移量后返回分束器;在分束器汇合后的两路光在Z方向的偏移量相同,在XY平面内产生一个横向剪切量h;两路相干光经过分束器再次分束后,一半能量在分束器下方出射,通过第一成像镜与第一探测器进行干涉光强度的探测;另一半能量在分束器左侧出射,通过第二成像镜与第二探测器进行干涉光强度的探测,从而实现双通道的同时探测;经过成像系统后在每一探测器上得到受干涉强度调制的目标点强度信息,每一探测器的不同位置处得到不同地物目标点的不同光程差信息,通过推扫成像和干涉图提取可以得到目标的完整干涉信息,最后通过数据处理系统进行光谱复原从而复原出原始光谱信息。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院光电研究院,未经中国科学院光电研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201810392660.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top