[发明专利]一种双通道大孔径静态干涉成像光谱仪有效
申请号: | 201810392660.7 | 申请日: | 2018-04-27 |
公开(公告)号: | CN108613742B | 公开(公告)日: | 2021-01-01 |
发明(设计)人: | 才啟胜;刘怡轩;黄旻;方煜;路向宁;韩炜 | 申请(专利权)人: | 中国科学院光电研究院 |
主分类号: | G01J3/45 | 分类号: | G01J3/45;G01J3/02 |
代理公司: | 北京凯特来知识产权代理有限公司 11260 | 代理人: | 郑立明;郑哲 |
地址: | 100080 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种双通道大孔径静态干涉成像光谱仪,将Sagnac干涉仪中的一个平面反射镜替换为直角反射镜,光线经过直角反射镜反射后,在垂直纸面方向(Z方向)上产生一个偏移量,使经过干涉仪后出射的光线与入射光线偏离开,从而在干涉仪的分束器两端均可进行干涉信息的采集,具有双通道探测的特点。本发明的突出优点是完全利用了入射光能量,提高了系统的能量利用率,可以实现双通道同时探测。 | ||
搜索关键词: | 一种 双通道 孔径 静态 干涉 成像 光谱仪 | ||
【主权项】:
1.一种双通道大孔径静态干涉成像光谱仪,其特征在于,包括:准直镜、横向剪切干涉仪、第一与第二成像镜、第一与第二探测器,以及数据处理系统;其中:所述横向剪切干涉仪包括:分束器、平面反射镜和直角反射镜;物面S上的某点发出的光经过准直镜准直后成为平行光进入横向剪切干涉仪中,分束器将该平行光分为透射光和反射光两路,透射光依次经过平面反射镜与直角反射镜,在Z方向产生一个偏移量后返回分束器;反射光依次经过直角反射镜与平面反射镜,在Z方向产生一个偏移量后返回分束器;在分束器汇合后的两路光在Z方向的偏移量相同,在XY平面内产生一个横向剪切量h;两路相干光经过分束器再次分束后,一半能量在分束器下方出射,通过第一成像镜与第一探测器进行干涉光强度的探测;另一半能量在分束器左侧出射,通过第二成像镜与第二探测器进行干涉光强度的探测,从而实现双通道的同时探测;经过成像系统后在每一探测器上得到受干涉强度调制的目标点强度信息,每一探测器的不同位置处得到不同地物目标点的不同光程差信息,通过推扫成像和干涉图提取可以得到目标的完整干涉信息,最后通过数据处理系统进行光谱复原从而复原出原始光谱信息。
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