[发明专利]太赫兹波调制激光谱强度测量电光系数的装置和方法在审
| 申请号： | 201810394491.0 | 申请日： | 2018-04-27 |
| 公开（公告）号： | CN108918457A | 公开（公告）日： | 2018-11-30 |
| 发明（设计）人： | 柴路;宋琦;马庆;刘伟宁;栗岩锋;胡明列 | 申请（专利权）人： | 天津大学 |
| 主分类号： | G01N21/3586 | 分类号： | G01N21/3586 |
| 代理公司： | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人： | 刘国威 |
| 地址： | 300072*** | 国省代码： | 天津;12 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明属于光电检测技术领域，为提出一种太赫兹波调制最大激光谱强度的非接触式测量电光系数的方法,实现电光系数的准确测量。为此，本发明采用的技术方案是，太赫兹波调制激光谱强度测量电光系数的装置和方法，利用太赫兹时域频谱技术中的泵浦‑探测系统，将产生的太赫兹波和探测激光同时聚焦到探测晶体上，此时，激光作为探测信号，太赫兹波作为调制信号，通过光谱仪分别测量有太赫兹波存在和无太赫兹波存在时探测激光光谱的最大强度改变量，再通过计算公式反推出样品对应的电光系数。本发明主要应用于光电检测场合。 | ||
| 搜索关键词： | 电光系数 太赫兹波 太赫兹波调制 激光 强度测量 非接触式测量 光电检测技术 探测激光光谱 太赫兹时域 光谱仪 调制信号 光电检测 计算公式 频谱技术 探测激光 探测晶体 探测系统 探测信号 准确测量 改变量 泵浦 测量 聚焦 应用 | ||
【主权项】：
1.一种太赫兹波调制激光谱强度测量电光系数的方法，其特征是，利用太赫兹时域频谱技术中的泵浦‑探测系统，将产生的太赫兹波和探测激光同时聚焦到探测晶体上，此时，激光作为探测信号，太赫兹波作为调制信号，通过光谱仪分别测量有太赫兹波存在和无太赫兹波存在时探测激光光谱的最大强度改变量，再通过计算公式反推出样品对应的电光系数。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于天津大学，未经天津大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201810394491.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
