[发明专利]一种偏振成像系统的标定方法有效

专利信息
申请号: 201810394621.0 申请日: 2018-04-27
公开(公告)号: CN108871579B 公开(公告)日: 2020-11-13
发明(设计)人: 李艳秋;李建慧 申请(专利权)人: 北京理工大学
主分类号: G01J4/00 分类号: G01J4/00;G01M11/02
代理公司: 北京理工大学专利中心 11120 代理人: 李爱英;郭德忠
地址: 100081 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种偏振成像系统的标定方法,能够完成对成像物镜和准直镜的标定,消除成像物镜和准直镜引入的误差,提高偏振成像系统的测量精度。本发明通过多步本征值法可以完成耦合准直镜的标定,提高成像物镜偏振像差的测量精度。该方法可以实现在线测量,不需要利用其他的测量装置对器件进行标定,也不需要改变已有的光路,从而引入其他误差,该标定方法能够完成对系统中各个器件的标定,该操作简单,测量精度高。
搜索关键词: 一种 偏振 成像 系统 标定 方法
【主权项】:
1.一种偏振成像系统的标定方法,所述偏振成像系统包括激光器、PSG、成像物镜、准直镜、PSA及探测器,其特征在于,将参考样品分别置于PSG与成像物镜之间、准直镜与PSA之间以及成像物镜与准直镜之间,并利用本征值法对参考样品左右两边的器件或器件组合进行标定,得到PSG的Mueller矩阵G、PSA的Mueller矩阵A、PSG和成像物镜组合的Mueller矩阵M3以及准直镜和PSA组合的Mueller矩阵M4;根据下式得到成像物镜的Mueller矩阵ML1和准直镜的Mueller矩阵ML2:ML1=M3·G‑1                         (17)ML2=A‑1·M4                         (18)完成对成像物镜和准直镜的标定。
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