[发明专利]一种芯片测试系统及方法在审
| 申请号： | 201810396870.3 | 申请日： | 2018-04-28 |
| 公开（公告）号： | CN108595298A | 公开（公告）日： | 2018-09-28 |
| 发明（设计）人： | 滕立伟;于岗 | 申请（专利权）人： | 青岛海信电器股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/26 | 分类号： | G06F11/26 |
| 代理公司： | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人： | 逯长明;许伟群 |
| 地址： | 266100 山*** | 国省代码： | 山东;37 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请公开了一种芯片测试系统及方法。该芯片测试系统包括微处理器和可编程逻辑器件，可编程逻辑器件与上位机相连接，在接收到上位机传输的测试指令后，可编程逻辑器件确定测试指令的类型；若测试指令为第一测试指令，可编程逻辑器件获取第一测试指令对应的第一测试序列，并根据第一测试序列产生第一测试激励，将第一测试激励传输至芯片；若测试指令为第二测试指令，可编程逻辑器件向微处理器发送第二测试序列请求，并根据微处理器传输的第二测试序列产生相应的第二测试激励，将第二测试激励传输至芯片。该系统结构较为简单，成本较低。并且，采用本申请实施例公开的方案对芯片进行测试，能够减少ATE的使用时间，进一步能够减少测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 测试指令 可编程逻辑器件 测试激励 测试序列 芯片测试系统 微处理器 传输 芯片 上位机 测试成本 系统结构 申请 发送 测试 | ||
【主权项】：
1.一种芯片测试系统，其特征在于，包括：微处理器和可编程逻辑器件；其中，所述可编程逻辑器件与上位机相连接，在接收到所述上位机传输的测试指令后，所述可编程逻辑器件确定所述测试指令的类型；若所述测试指令为第一测试指令，所述可编程逻辑器件获取所述第一测试指令对应的第一测试序列，并根据所述第一测试序列产生相应的第一测试激励，将所述第一测试激励传输至芯片；若所述测试指令为第二测试指令，所述可编程逻辑器件向所述微处理器发送第二测试序列请求，并根据所述微处理器传输的第二测试序列产生相应的第二测试激励，将所述第二测试激励传输至所述芯片。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于青岛海信电器股份有限公司，未经青岛海信电器股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201810396870.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种UPI速度的检测方法及装置
- 下一篇：终端设备的测试系统
