[发明专利]硅晶电池蓝膜检测系统及其图像采集装置在审
| 申请号： | 201810397603.8 | 申请日： | 2018-04-28 |
| 公开（公告）号： | CN108447798A | 公开（公告）日： | 2018-08-24 |
| 发明（设计）人： | 金秉文;戴云霄;吕辉;徐琼;吴群策 | 申请（专利权）人： | 杭州利珀科技有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/66 | 分类号： | H01L21/66;H01L31/18 |
| 代理公司： | 杭州宇信知识产权代理事务所(普通合伙) 33231 | 代理人： | 胡小龙 |
| 地址： | 311305 浙江省杭州市临安市青山*** | 国省代码： | 浙江;33 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种硅晶电池蓝膜数据采集装置，包括用于遮蔽外界光线且下端开口的箱体组件，所述箱体组件的下方设有位于被测硅晶电池片下方的背景板，所述箱体组件内设有位于所述被测硅晶电池片上方并照射所述被测硅晶电池片的光源组件，且所述箱体组件内还设有用于对所述被测硅晶电池片拍照的相机。本发明的还公开了一种硅晶电池蓝膜检测系统。本发明的硅晶电池蓝膜检测系统及其图像采集装置，能够实现对硅晶电池蓝膜缺陷的检测，并提高生产效率，降低工人劳动强度和成本。 | ||
| 搜索关键词： | 硅晶 蓝膜 硅晶电池片 箱体组件 电池 检测系统 图像采集装置 数据采集装置 光源组件 生产效率 外界光线 下端开口 背景板 遮蔽 拍照 照射 相机 检测 | ||
【主权项】：
1.一种硅晶电池蓝膜图像采集装置，其特征在于：包括用于遮蔽外界光线且下端开口的箱体组件（6），所述箱体组件（6）的下方设有位于被测硅晶电池片（4）下方的背景板（3），所述箱体组件（6）内设有位于所述被测硅晶电池片（4）上方并照射所述被测硅晶电池片（4）的光源组件，且所述箱体组件内还设有用于对所述被测硅晶电池片拍照的相机（11）。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
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