[发明专利]一种长轴联轴器同轴度调校方法在审

专利信息
申请号: 201810404379.0 申请日: 2018-04-28
公开(公告)号: CN108817934A 公开(公告)日: 2018-11-16
发明(设计)人: 朱广军;武炜;朱雪威;甘性禄 申请(专利权)人: 中冶建工集团有限公司
主分类号: B23P19/10 分类号: B23P19/10;G01B5/252
代理公司: 重庆博凯知识产权代理有限公司 50212 代理人: 伍伦辰
地址: 400084 *** 国省代码: 重庆;50
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摘要: 发明公开了一种长轴联轴器同轴度调校方法,在相对间隔设置的两个半联轴器之间安装连接轴之前,在第一半联轴器和第二半联轴器之间设置调校装置,调校装置与第一半联轴器连接,并在朝向第二联轴器的一端形成一替代平面,替代平面与第一半联轴器朝向第二半联轴器的测量基准端面平行,第一联轴器转动可带动替代平面同轴转动,以替代平面为基准设置有百分表,通过百分表测量两半联轴器之间同轴度,若不达标,移动调节第一半联轴器和/或第二板联轴器直至两半联轴器同轴度达标的位置。替代平面的设置,解决现有技术中两半联轴器间隔太远,无法直接通过百分表测量的问题。可方便快捷的测量出两半联轴器之间同轴度,为调校提供测量数据支持。
搜索关键词: 半联轴器 同轴度 百分表 替代 调校 长轴联轴器 调校装置 测量 联轴器 第一联轴器 测量基准 测量数据 端面平行 基准设置 间隔设置 同轴转动 移动调节 连接轴 平面的 达标 转动
【主权项】:
1.一种长轴联轴器同轴度调校方法,其特征在于,在相对间隔设置的两个半联轴器之间安装连接轴之前,在第一半联轴器和第二半联轴器之间设置调校装置,调校装置与第一半联轴器连接,并在朝向第二联轴器的一端形成一替代平面,替代平面与第一半联轴器朝向第二半联轴器的测量基准端面平行,以替代平面为基准设置有百分表,转动第一半联轴器,第一联轴器转动带动替代平面同轴转动,将百分表垂直第二半联轴上的待检测端面且触头与待检测端面抵接测量,测量第一半联轴器与第二半联轴器对应端面间的轴向偏差,将百分表沿与第二半联轴上的待检测端面连接的环形外周面的径向设置且触头与该环形外周面抵接测量,测量第一半联轴器与第二半联轴器的径向偏差;通过轴向偏差和径向偏差判断第一半联轴器和第二半联轴器的同轴度是否达标,若否,沿轴向或径向调整第一半联轴器和/或第二半连轴器的位置,然后重复测量调校直至第一半联轴器和第二半联轴器同轴度达标。
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