[发明专利]一种图像信噪比最优的综合孔径辐射计天线阵列排布方法有效
| 申请号： | 201810409105.0 | 申请日： | 2018-05-03 |
| 公开（公告）号： | CN108647418B | 公开（公告）日： | 2020-08-18 |
| 发明（设计）人： | 胡飞;朱冬;彭晓辉;胡昊 | 申请（专利权）人： | 华中科技大学 |
| 主分类号： | G06F30/18 | 分类号： | G06F30/18;G06F30/20;H01Q21/00 |
| 代理公司： | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人： | 李智;曹葆青 |
| 地址： | 430074 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种图像信噪比最优的综合孔径辐射计天线阵列排布方法，包括：根据综合孔径辐射计天线阵列的稀疏构型对反演图像信噪比的作用关系，建立基于采样空洞位置与冗余基线分布的目标函数；根据物理限制和性能约束，建立天线阵列排布的约束函数；结合目标函数与约束函数，建立以图像信噪比最优为目标的综合孔径稀疏天线阵列优化的问题模型；利用智能优化算法求解问题模型，获得最优的天线阵列构型。本发明提出的综合孔径辐射计天线阵列优化排布方法，得到的阵列构型优于同等阵元规模的典型阵列构型，可以提高反演图像信噪比，有利于后续图像处理的目标检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 图像 最优 综合 孔径 辐射计 天线 阵列 排布 方法 | ||
【主权项】：
1.一种图像信噪比最优的综合孔径辐射计天线阵列排布方法，其特征在于，包括：(1)根据综合孔径辐射计天线阵列的稀疏构型对反演图像信噪比的作用关系，建立基于采样空洞位置与冗余基线分布的目标函数；根据物理限制和性能约束，建立天线阵列排布的约束函数；(2)结合目标函数与约束函数，建立以图像信噪比最优为目标的综合孔径稀疏天线阵列优化的问题模型；利用智能优化算法求解问题模型，获得最优的天线阵列构型。
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