[发明专利]一种Ⅱ-类超晶格红外探测器吸收区结构在审
申请号: | 201810410863.4 | 申请日: | 2018-05-02 |
公开(公告)号: | CN108493273A | 公开(公告)日: | 2018-09-04 |
发明(设计)人: | 詹健龙;菇国海 | 申请(专利权)人: | 嘉兴风云科技有限责任公司 |
主分类号: | H01L31/0304 | 分类号: | H01L31/0304;H01L31/09 |
代理公司: | 嘉兴启帆专利代理事务所(普通合伙) 33253 | 代理人: | 程开生 |
地址: | 314000 浙江省嘉兴市经济技术开发*** | 国省代码: | 浙江;33 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种Ⅱ‑类超晶格红外探测器吸收区结构,吸收区由若干层超晶格层依次叠加构成,每层超晶格层从下往上依次包括有InAs层、第一类GaAs界面、第一GaSb层、第一InSb层、第二GaSb层、第二InSb层、第三GaSb层、第二类GaAs界面。本发明的Ⅱ‑类超晶格红外探测器吸收区结构,吸收波长可以分别针对短波红外(SWIR,1‑3微米)、中波红外(MWIR,3‑5微米)、长波红外(LWIR,8‑12微米)、甚长波红外(VLWIR,12‑30微米)波段进行高效的吸收。 | ||
搜索关键词: | 吸收区 红外探测器 超晶格 长波 超晶格层 吸收波长 依次叠加 波段 短波 吸收 | ||
【主权项】:
1.一种Ⅱ‑类超晶格红外探测器吸收区结构,其特征在于,所述吸收区由若干层超晶格层依次叠加构成,每层超晶格层从下往上依次包括有InAs层、第一类GaAs界面、第一GaSb层、第一InSb层、第二 GaSb层、第二InSb层、第三GaSb层、第二类GaAs界面。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于嘉兴风云科技有限责任公司,未经嘉兴风云科技有限责任公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201810410863.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种太阳能硅片
- 下一篇:一种可控垂直硒化铋纳米片薄膜及其制备方法
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的