[发明专利]一种用于石墨烯芯片加工的高效瑕疵处理系统

摘要

本发明公开了一种用于石墨烯芯片加工的高效瑕疵处理系统，包括检测台，所述检测台上设有检测输送带，检测台的一侧中央垂直连接有次品台，次品台上设有次品输送带，检测台远离次品台的一侧焊接有支撑架，支撑架远离检测台的一侧垂直连接有第一悬杆和第二悬杆，第一悬杆和第二悬杆远离支撑架的一端分别连接有第一检测头和第二检测头，第一检测头和第二检测头中间设有打磨装置。本发明通过第一、二检测头先后对石墨烯芯片的两次图片拍摄，以及处理器的对比分析，可准确的判断芯片是否有外观瑕疵，以及瑕疵处理后产品是否合格，智能化程度高，提高了对产品检验和外观瑕疵处理判断的效率，有效的降低了产品的不良率，提高了产品质量。

主权项

1.一种用于石墨烯芯片加工的高效瑕疵处理系统，包括检测台（1），其特征在于，所述检测台（1）上设有检测输送带（2），检测台（1）的一侧中央垂直连接有次品台（3），次品台（3）上设有次品输送带（4），检测台（1）远离次品台（3）的一侧焊接有支撑架（17），支撑架（17）远离检测台（1）的一侧垂直连接有第一悬杆（5）和第二悬杆（6），第一悬杆（5）和第二悬杆（6）远离支撑架（17）的一端分别连接有第一检测头（7）和第二检测头（8），第一检测头（7）和第二检测头（8）中间设有打磨装置（9），第二检测头（8）远离打磨装置（9）的一端连接有开口朝下的U形架（10），U形架（10）内转动连接有转杆（11），转杆（11）的外侧周向设有成放射状分布的次品剔除板（12），且次品剔除板（12）远离转杆（11）的一端均设有橡胶条（13）。