[发明专利]光学检测设备在审

专利信息
申请号: 201810415909.1 申请日: 2018-05-03
公开(公告)号: CN110231145A 公开(公告)日: 2019-09-13
发明(设计)人: 江宏伟 申请(专利权)人: 由田新技股份有限公司
主分类号: G01M11/00 分类号: G01M11/00
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 吴志红;臧建明
地址: 中国台湾新北市中*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明提供一种光学检测设备用以检测放置于工作平面上的待测物。光学检测设备包括载架、图像获取元件、旋转载盘、第一光源以及第二光源。图像获取元件与旋转载盘设置于载架上。图像获取元件具有光轴,且光轴延伸通过待测物。第一光源与第二光源分别设置于旋转载盘的相对两侧。旋转载盘配置用以依轴线相对于载架旋转以切换第一光源与第二光源的方位。因此,无须拆装光源,并且不会对光线的投射角度造成影响,因而便于使用且具有极佳的可靠度。
搜索关键词: 光源 载盘 光学检测设备 图像获取元件 载架 待测物 工作平面 光轴延伸 相对两侧 可靠度 拆装 光轴 投射 检测 配置
【主权项】:
1.一种光学检测设备,用以检测放置于工作平面上的待测物,其特征在于,所述光学检测设备包括:载架;图像获取元件,设置于所述载架上,所述图像获取元件具有光轴,且所述光轴延伸通过所述待测物;旋转载盘,设置于所述载架上,且位于所述图像获取元件的一侧;第一光源,配置用以发出第一光线;以及第二光源,与所述第一光源分别设置于所述旋转载盘的相对两侧,且配置用以发出第二光线,其中所述旋转载盘配置用以依轴线相对于所述载架旋转而使所述第一光源的所述第一光线或所述第二光源的所述第二光线射向所述待测物,且所述轴线与所述光轴相交。
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