[发明专利]一种测试方法在审
申请号: | 201810420972.4 | 申请日: | 2018-05-04 |
公开(公告)号: | CN108828350A | 公开(公告)日: | 2018-11-16 |
发明(设计)人: | 李东声 | 申请(专利权)人: | 天地融电子(天津)有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 301700 天*** | 国省代码: | 天津;12 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种测试方法,该方法包括:控制端在启动按键的状态值为第二状态值时,向测试工装发送上电指令;测试工装接收上电指令,根据上电指令给N个待测试电子产品同时进行上电,控制端对N1个上电成功的待测试电子产品同时执行电压调整和过流检测,控制端向测试工装发送待下载信息,测试工装接收待下载信息,利用待下载信息对N2个过流检测通过的待测试电子产品同时执行下载流程,控制端向测试工装发送老化测试指令;测试工装接收老化测试指令,对N3个下载流程执行成功的待测试电子产品同时执行老化测试,控制端向测试工装发送下电指令;测试工装接收下电指令,根据下电指令给N4个老化测试通过的待测试电子产品同时进行下电。 | ||
搜索关键词: | 测试工装 测试电子 控制端 老化测试 下电 指令 上电指令 下载信息 发送 过流检测 下载 测试 电压调整 流程执行 启动按键 上电成功 上电 成功 | ||
【主权项】:
1.一种测试方法,其特征在于,包括:控制端监测并获取测试工装上启动按键的状态值;所述控制端在所述启动按键的状态值为第一状态值时,继续监测并获取所述测试工装上启动按键的状态值;在所述启动按键的状态值为第二状态值时,向所述测试工装发送上电指令;所述测试工装接收所述上电指令,根据所述上电指令给N个所述待测试电子产品同时进行上电,其中,所述N为正整数;所述控制端获取所述上电的结果,根据所述上电的结果生成第一控制指令;向所述测试工装发送所述第一控制指令;所述测试工装接收所述第一控制指令,根据所述第一控制指令控制所述测试工装上与N个所述待测试电子产品各自对应的第一指示部件指示各自上电的结果;所述控制端对N1个上电成功的待测试电子产品同时执行电压调整和过流检测,所述N1为正整数且小于等于N;所述控制端获取所述过流检测的结果,根据所述过流检测的结果生成第二控制指令;向所述测试工装发送所述第二控制指令;所述测试工装接收所述第二控制指令,根据所述第二控制指令控制所述测试工装上与N1个所述上电成功的待测试电子产品各自对应的第一指示部件指示各自的过流检测的结果;所述控制端向所述测试工装发送待下载信息,所述测试工装接收所述待下载信息,利用所述待下载信息对N2个过流检测通过的待测试电子产品同时执行下载流程,所述N2为正整数且小于等于N1;所述控制端获取所述下载流程的进程,并向所述测试工装发送进程指示信息,所述进程指示信息用于指示所述下载流程的进程,所述测试工装接收到所述进程指示信息,根据所述进程指示信息控制所述测试工装上的第二指示部件指示所述下载流程的进程;所述控制端获取所述待测试电子产品的下载流程的执行结果,根据所述下载流程的执行结果生成第三控制指令;向所述测试工装发送所述第三控制指令;所述测试工装接收所述第三控制指令,根据所述第三控制指令控制所述测试工装上与N2个所述过流检测通过的待测试电子产品各自对应的第一指示部件指示各自的下载流程的执行结果;所述控制端向所述测试工装发送老化测试指令;所述测试工装接收所述老化测试指令,对N3个下载流程执行成功的待测试电子产品同时执行老化测试,所述N3为正整数且小于等于N2;所述控制端获取所述老化测试的结果,根据所述老化测试的结果生成第四控制指令;向所述测试工装发送所述第四控制指令;所述测试工装接收所述第四控制指令,根据所述第四控制指令控制所述测试工装上与N3个所述下载流程执行成功的待测试电子产品各自对应的第一指示部件指示各自的老化测试的结果;所述控制端向所述测试工装发送下电指令;所述测试工装接收所述下电指令,根据所述下电指令给N4个所述老化测试通过的待测试电子产品同时进行下电,所述N4为正整数且小于等于N3。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于天地融电子(天津)有限公司,未经天地融电子(天津)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201810420972.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种测试系统
- 下一篇:一种高可靠的芯片化保护装置自检电路