[发明专利]一种纳米尺度的微波磁场测量方法有效
申请号: | 201810421286.9 | 申请日: | 2018-05-04 |
公开(公告)号: | CN108646203B | 公开(公告)日: | 2020-05-15 |
发明(设计)人: | 杜江峰;张一幸;王鹏飞;李瑞;王成杰;秦熙;石发展;王亚 | 申请(专利权)人: | 中国科学技术大学 |
主分类号: | G01R33/02 | 分类号: | G01R33/02 |
代理公司: | 北京凯特来知识产权代理有限公司 11260 | 代理人: | 郑立明;郑哲 |
地址: | 230026 安*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本发明公开了一种纳米尺度的微波磁场测量方法,该方法通过测量BS平移量,并结合设定的序列可以推算出微波磁场的幅度和频率,频率的测量范围可从100MHz到5GHz。相比于以往用线圈、里德堡原子和超导线圈的测量方法,本方法具有纳米尺度的空间分辨率和较高的精度,并且能在室温大气等温和条件下进行测量。相比于基于NV色心用Rabi振荡来测量微波磁场的方法,本方法不需要共振的条件,且能同时测量微波磁场的幅度和频率,并有很高的带宽;本方法具有灵活性和普遍性,不仅适用于色心体系,也能用于其它体系,如冷原子等;因此,上述微波磁场测量方法将会有很多潜在的应用。 | ||
搜索关键词: | 一种 纳米 尺度 微波 磁场 测量方法 | ||
【主权项】:
1.一种纳米尺度的微波磁场测量方法,其特征在于,包括:基于BS平移效应,结合预先设定的用于测量微波磁场的序列,测量微波磁场对NV色心自旋为|0>态和|+1>态,以及NV色心自旋为|0>态和|‑1>态所造成的BS平移量;将计算出的BS平移量结合预先推导的公式,计算出待测微波磁场的频率与幅度。
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