[发明专利]一种阵列天线测试系统及其测试方法有效

专利信息
申请号: 201810424620.6 申请日: 2018-05-07
公开(公告)号: CN108562801B 公开(公告)日: 2023-05-12
发明(设计)人: 李勉 申请(专利权)人: 北京中微普业科技有限公司
主分类号: G01R29/10 分类号: G01R29/10
代理公司: 北京国林贸知识产权代理有限公司 11001 代理人: 郑俊彦
地址: 100070 北京市丰*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种阵列天线测试系统及其测试方法,包括矢量网络分析仪、上位机、测试用的探头阵列(2)、探头阵列的自动控制装置和一个用于设置被测阵列天线(3)的可升降平台(1);探头阵列的自动控制装置通过接收上位机传送的被测阵列天线(3)的阵子排列坐标信号,使探头阵列(2)作为镜像阵列与被测阵列天线(3)对应;矢量网络分析仪产生射频信号并接入到被测阵列天线(3),被测阵列天线(3)输出被测信号至探头阵列(2),探头阵列(2)将被测信号回传给矢量网络分析仪进行分析。本发明能够自适应被测天线阵列的数量以及不同排布情况,可以自动化的变更镜像的探头阵列的数字以及排布,达到多探头自适应的测试。
搜索关键词: 一种 阵列 天线 测试 系统 及其 方法
【主权项】:
1.一种阵列天线测试系统,其特征在于:包括矢量网络分析仪、上位机、测试用的探头阵列(2)、探头阵列的自动控制装置和一个用于设置被测阵列天线(3)的可升降平台(1);所述探头阵列(2)与可升降平台(1)平行设置,且探头方向对应可升降平台,探头阵列(2)中设置有多个探头(2‑1);所述矢量网络分析仪与上位机连接;所述探头阵列的自动控制装置与上位机连接,探头阵列的自动控制装置包括一个控制单元,控制单元通过接收上位机传送的网络信号控制探头阵列(2)中的探头(2‑1)在阵列平面内在X、Y两个方向实现位移。
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