[发明专利]一种微纳尺度记忆合金双程记忆应变测试装置及测试方法在审
申请号: | 201810424840.9 | 申请日: | 2018-05-07 |
公开(公告)号: | CN108489414A | 公开(公告)日: | 2018-09-04 |
发明(设计)人: | 杨海峰;刘昊;熊飞;满家祥;郝敬宾 | 申请(专利权)人: | 中国矿业大学 |
主分类号: | G01B11/16 | 分类号: | G01B11/16 |
代理公司: | 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 | 代理人: | 吴旭 |
地址: | 221116 江苏省徐*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种微纳尺度记忆合金双程记忆应变测试装置及测试方法,将记忆合金微柱的双程记忆应变通过激光光路放大之后再进行检测记录,使记忆合金微柱双程记忆应变的快速测量得以实现,且大大降低了测量误差。采用脉冲红外激光作为热源,可快速加热或冷却,满足其在高频率热循环下的应变测试。并通过高速相机记录因记忆合金微柱应变引起的接收屏上光斑的快速移动,反应速度快、精度高。 | ||
搜索关键词: | 记忆合金 双程 微柱 应变测试装置 尺度 脉冲红外激光 测试 反应速度快 光斑 高速相机 激光光路 快速测量 快速加热 快速移动 应变测试 高频率 接收屏 热循环 热源 记录 冷却 测量 放大 检测 | ||
【主权项】:
1.一种微纳尺度记忆合金双程记忆应变测试装置,其特征在于,包括:光路检测及记录系统、探针调整系统、加热及控制系统;所述光路检测及记录系统包括接收屏(2)、氦氖激光器(4)、第一半透半反镜(5)、高速相机(6)以及相机控制器(18);所述探针调整系统包括CCD(7)、探针(9)、探针架(12)、三维移动平台(13)、移动控制器(16)以及计算机(17);所述加热及控制系统包括脉冲延时发生器(1)、三棱镜(11)、脉冲红外激光器(14)、激光控制器(15);所述探针架(12)固定在由所述移动控制器(16)驱动的三维移动平台(13)上,所述移动控制器(16)连接所述计算机(17),所述探针(9)通过其悬臂梁与所述探针架(12)相连,记忆合金微柱(10)设置在所述三棱镜(11)的水平底面上,所述探针(9)位于所述记忆合金微柱(10)正上方;所述氦氖激光器(4)出射光穿透所述第一半透半反镜(5)垂直照射在所述探针(9)的端部,反射光线经所述第一半透半反镜(5)反射到所述接收屏(2)上;所述CCD(7)连接所述计算机(17),用于探测所述探针(9)与所述记忆合金微柱(10)的相对位置;所述高速相机(6)用于记录所述接收屏(2)上光斑移动轨迹;所述脉冲延时发生器(1)连接所述激光控制器(15)以及相机控制器(18),所述相机控制器(18)连接所述高速相机(6),所述激光控制器(15)连接所述脉冲红外激光器(14),所述脉冲红外激光器(14)的出射激光经所述三棱镜(11)对所述记忆合金微柱(10)加热。
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