[发明专利]通用CRTSⅢ型无砟轨道板关键几何尺寸加工偏差快速检测方法

摘要

本发明公开了一种通用CRTSⅢ型无砟轨道板关键几何尺寸加工偏差快速检测方法，根据CRTSⅢ型轨道板的设计几何尺寸参数建立独立轨枕三维模型，通过轨枕三维模型组合建立相应型号的轨道板三维模型；采用模板驱动的方法完成承轨台点云分割，对承轨台的承轨面及其内外侧钳口面进行标记，并确定预埋套管中心位置和半径；采用顾及承轨台结构特征的点云降采样方法对承轨台点云进行压缩；采用附加预埋套管中心纵向偏差约束的最小二乘表面配准算法进行将左右承轨台三个关键面点云与轨道板中对应轨枕的三维模型对齐；根据CRTSⅢ型轨道板设计参数的定义，在承轨台点云上完成轨道板关键几何尺寸加工偏差的快速检测。本发明通用性和灵活性好，同时精度能够满足检测需求。

主权项

1.一种通用CRTSⅢ型无砟轨道板关键几何尺寸加工偏差快速检测方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：根据CRTSⅢ型轨道板的设计形状和尺寸建立独立轨枕三维模型，再根据轨枕数、轨枕间隔、第一个轨枕到板首端和最后一个轨枕到板末端距离四个参数，通过轨枕三维模型组合建立不同型号的轨道板三维模型；S2：采用模板驱动的方法完成承轨台点云分割，将承轨台点云中对应的承轨面（1）、内侧和外侧的钳口面（2）作为三个关键面，分别进行标记，并确定承轨台点云中对应的预埋套管中心（3）位置和预埋套管半径；S3：采用顾及承轨台结构特征的点云降采样法对承轨台点云进行压缩；S4：采用附加预埋套管中心纵向偏差约束的最小二乘表面配准算法进行将左右承轨台所述三个关键面的点云与轨道板中对应轨枕的三维模型对齐；S5：根据CRTSⅢ型轨道板设计参数的定义，在承轨台点云上完成待检测参数的量测计算，并与设计参数相比较，得到轨道板几何尺寸的加工偏差。