[发明专利]一种阵列天线总辐射功率的测量方法、装置和系统在审
| 申请号： | 201810426814.X | 申请日： | 2018-05-07 |
| 公开（公告）号： | CN110460400A | 公开（公告）日： | 2019-11-15 |
| 发明（设计）人： | 庄言春;高华;钟坤静;薛飞 | 申请（专利权）人： | 中兴通讯股份有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/354 | 分类号： | H04B17/354;H04B7/0413 |
| 代理公司： | 11112 北京天昊联合知识产权代理有限公司 | 代理人： | 彭瑞欣;张天舒<国际申请>=<国际公布> |
| 地址： | 518057广东省深圳市南山*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： |
本发明实施例公开了一种阵列天线总辐射功率的测量方法、装置和系统，其中，所述方法包括：确定阵列天线在角度空间的瑞利分辨率，根据所述瑞利分辨率设置采样点的步进栅格间距；按照所述步进栅格间距确定采样点，在所述采样点位置测量等效全向辐射功率EIRP，根据所述EIRP确定TRP。本发明实施例相对于传统的角度步进栅格θgrid、 |
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| 搜索关键词： | 阵列天线 测量 步进栅 采样点 瑞利 等效全向辐射功率EIRP 采样点位置 分辨率设置 总辐射功率 波矢空间 采样点数 测量效率 测试方式 间距确定 角度空间 传统的 归一化 角度步 分辨率 栅格 转换 | ||
【主权项】：
1.一种阵列天线总辐射功率TRP的测量方法，包括：/n确定阵列天线在角度空间的瑞利分辨率，根据所述瑞利分辨率设置采样点的步进栅格间距；/n按照所述步进栅格间距确定采样点，在所述采样点位置测量等效全向辐射功率EIRP，根据所述EIRP确定TRP。/n
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