[发明专利]多轴控制系统的同步性能检测方法、装置和系统有效
| 申请号： | 201810432215.9 | 申请日： | 2018-05-08 |
| 公开（公告）号： | CN108549026B | 公开（公告）日： | 2020-11-24 |
| 发明（设计）人： | 陈英华 | 申请（专利权）人： | 广州视源电子科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/34 | 分类号： | G01R31/34 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 黄隶凡 |
| 地址： | 510530 广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种多轴控制系统的同步性能检测方法、装置和系统，其中方法包括步骤：采集多轴控制系统中各个电机的位移数据，其中，各个电机按照规划轨迹带动负载运动，根据采集的各个电机的位移数据合成欧氏空间的运动轨迹，将运动轨迹与规划轨迹进行比较，获取运动轨迹与规划轨迹之间的轨迹误差，根据轨迹误差对多轴控制系统的同步性能进行检测。上述多轴控制系统的同步性能检测方法，能够迅速、直观而准确地获知由于各个电机之间的同步误差导致的轨迹误差，从而实现对多轴控制系统的同步性能检测，且可以体现多轴控制系统最终实现的空间运动轨迹的精度。 | ||
| 搜索关键词： | 控制系统 同步 性能 检测 方法 装置 系统 | ||
【主权项】：
1.一种多轴控制系统的同步性能检测方法，其特征在于，包括：采集多轴控制系统中各个电机的位移数据，其中，各个所述电机按照规划轨迹带动负载运动；根据采集的各个电机的位移数据合成欧氏空间的运动轨迹，将所述运动轨迹与规划轨迹进行比较，获取运动轨迹与规划轨迹之间的轨迹误差；根据所述轨迹误差对所述多轴控制系统的同步性能进行检测。
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