[发明专利]一种基于残差最小的电阻抗层析成像图像分割方法有效

专利信息
申请号: 201810433712.0 申请日: 2018-05-08
公开(公告)号: CN108830875B 公开(公告)日: 2021-04-27
发明(设计)人: 董峰;梁光辉;任尚杰 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: G06T7/136 分类号: G06T7/136;G06T5/00
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 代理人: 程毓英
地址: 300072*** 国省代码: 天津;12
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及一种基于残差最小的电阻抗层析成像图像分割方法,该方法将电阻抗层析成像获得的电阻抗分布值降序排列用作阈值候选向量,通过顺序选取阈值向量中的阈值进行图像二值化分割,计算分割图像边界正向电压与测量电压的残差,若残差小于预设值,选取最小残差所对应的分割图像作为最优阈值分割图像。本发明可以提高图像对比度,得到目标物边界更加清晰。
搜索关键词: 一种 基于 最小 阻抗 层析 成像 图像 分割 方法
【主权项】:
1.一种基于残差最小的电阻抗层析成像图像分割方法,该方法将电阻抗层析成像获得的电阻抗分布值降序排列用作阈值候选向量,通过顺序选取阈值向量中的阈值进行图像二值化分割,计算分割图像边界正向电压与测量电压的残差,若残差小于预设值,选取最小残差所对应的分割图像作为最优阈值分割图像,步骤如下:(1)将被测对象置于电阻抗层析成像测量系统中,对电极实施激励,获取电极的边界测量值p;(2)将被测场域内电阻抗分布离散化表征为n个像素点的电阻抗分布图像,并计算边界测量值p关于成像区域内离散分布的电阻抗值的灵敏度矩阵J;(3)利用某种图像重建算法获取电阻抗层析成像重建图像x;(4)将图像x的像素值进行降序排列,并保存到向量L中,作为图像分割的候选阈值向量;(5)选取L的第k个元素作为图像分割阈值,设k的初值为1,对x进行分割,获得x的二值化图像bk,计算投影矩阵(6)利用投影矩阵计算二值图像bk所对应的最优电导率估计gk,并计算残差d(k);(7)若残差小于预设值τ,停止迭代,选取bk作为x的最优二值图像,否则,设k=k+1,并返回步骤5继续迭代。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于天津大学,未经天津大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201810433712.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top