[发明专利]一种光电复合式破片群位置测试装置和测试方法有效

专利信息
申请号: 201810437812.0 申请日: 2018-05-09
公开(公告)号: CN108844460B 公开(公告)日: 2021-02-05
发明(设计)人: 李翰山;高俊钗;雷志勇;徐树茂 申请(专利权)人: 西安工业大学
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00
代理公司: 北京商专永信知识产权代理事务所(普通合伙) 11400 代理人: 方挺;邬玥
地址: 710021 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明提供一种光电复合式破片群位置测试装置和测试方法,其中,测试装置包括测试装置主体、信号采集仪和上位机,其中,测试装置主体沿着破片飞散方向并距战斗部炸点一定距离处设置,还包括探测光幕单元和薄膜阵列测试单元,其中,探测光幕单元包括两个激光器和三个光电探测器阵列,激光器和光电探测阵列对应构成光幕并作为用于双线激光交汇的第一测试靶面,薄膜阵列测试单元布置在测试装置主体中间并具有第二测试靶面。本发明的激光和薄膜阵列光电复合法能够测试定向战斗部破片群散布位置,为破片群定向控制技术研究提供可靠的数据支撑。
搜索关键词: 一种 电复 合式 破片 位置 测试 装置 方法
【主权项】:
1.一种光电复合式破片群位置测试装置,其包括测试装置主体(17)、信号采集仪(15)和上位机(16),其中,所述测试装置主体(17)沿着破片飞散方向并距战斗部炸点一定距离处设置,所述测试装置主体(17)通过电缆线与所述信号采集仪(15)相连接,所述信号采集仪(15)通过电缆线与所述上位机(16)相连接,所述测试装置还包括探测光幕单元和薄膜阵列测试单元,其中,所述探测光幕单元包括两个激光器(7)和三个光电探测器阵列(5),所述激光器(7)和所述光电探测阵列(5)对应构成光幕并作为用于双线激光交汇的第一测试靶面,所述薄膜阵列测试单元布置在所述测试装置主体(17)中间并具有第二测试靶面。
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