[发明专利]杂散干扰程度测试方法、装置、计算机设备和存储介质有效
申请号: | 201810439485.2 | 申请日: | 2018-05-09 |
公开(公告)号: | CN108718222B | 公开(公告)日: | 2021-08-17 |
发明(设计)人: | 杨园园;张天瑜;许宁 | 申请(专利权)人: | 深圳市广和通无线通信软件有限公司 |
主分类号: | H04B17/345 | 分类号: | H04B17/345;H04B17/20 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 王宁 |
地址: | 518051 广东省深圳市南山区*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本申请涉及一种杂散干扰程度测试方法、装置、计算机设备和存储介质。方法包括获取待检测波形,根据预设扫描参数,确定待检测波形中的突发脉冲序列在预设扫描时间内的占用扫描点数,根据占用扫描点数,提取待检测波形中的突发脉冲序列,确定突发脉冲序列的待检测比特区间对应的扫描范围,提取待检测比特区间对应的扫描范围的电平最大值,并根据电平最大值确定待检测波形的杂散干扰程度。整个测试方法不依赖于频谱仪的触发精度,直接对待检测波形进行分析处理,测试实现过程简单且测试结果精度高。 | ||
搜索关键词: | 干扰 程度 测试 方法 装置 计算机 设备 存储 介质 | ||
【主权项】:
1.一种杂散干扰程度测试方法,其特征在于,包括:获取待检测波形;根据预设扫描参数,确定所述待检测波形中的突发脉冲序列在预设扫描时间内的占用扫描点数;根据所述占用扫描点数,提取所述待检测波形中的所述突发脉冲序列;确定所述突发脉冲序列的待检测比特区间对应的扫描范围;提取所述待检测比特区间对应的扫描范围的电平最大值,并根据所述电平最大值确定所述待检测波形的杂散干扰程度。
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