[发明专利]测试装置在审
| 申请号： | 201810444719.2 | 申请日： | 2018-05-10 |
| 公开（公告）号： | CN108535552A | 公开（公告）日： | 2018-09-14 |
| 发明（设计）人： | 高合助 | 申请（专利权）人： | 环旭电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R29/08 | 分类号： | G01R29/08 |
| 代理公司： | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人： | 聂慧荃;郑特强 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新区张*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测试装置，用于测试待测物，测试装置包括测试基板、测试基座以及信号连接器。测试基板具有基板上表面、基板下表面以及至少一连接于基板上表面与基板下表面之间的贯穿孔。测试基座设置在测试基板的基板上表面，以承载待测物。信号连接器设置于测试基板的基板上表面且邻近至少一贯穿孔。信号连接器通过穿过至少一贯穿孔的信号传输线，以电性连接于测试仪器。位于测试基座内的待测物依序通过测试基座、测试基板、信号连接器以及信号传输线，以与测试仪器形成电性连接。借此，本发明公开的测试装置，以使得信号连接器能通过穿过至少一贯穿孔的信号传输线而电性连接于测试仪器。 | ||
| 搜索关键词： | 信号连接器 测试基板 基板上表面 测试基座 测试装置 信号传输线 测试仪器 电性连接 待测物 基板下表面 穿孔的 穿过 贯穿孔 穿孔 承载 邻近 测试 | ||
【主权项】：
1.一种测试装置，其特征在于，用于测试一待测物，所述测试装置包括：一测试基板，所述测试基板具有一基板上表面、一基板下表面以及至少一连接于所述基板上表面与所述基板下表面之间的贯穿孔；一测试基座，所述测试基座设置在所述测试基板的所述基板上表面，以承载所述待测物；以及一信号连接器，所述信号连接器设置于所述测试基板的所述基板上表面且邻近至少一所述贯穿孔；其中，所述信号连接器通过一穿过至少一所述贯穿孔的信号传输线，以电性连接于一测试仪器；其中，位于所述测试基座内的所述待测物依序通过所述测试基座、所述测试基板、所述信号连接器以及所述信号传输线，以与所述测试仪器形成电性连接。
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