[发明专利]样品分析组件、样品分析装置及样品分析方法有效
| 申请号： | 201810446408.X | 申请日： | 2018-05-11 |
| 公开（公告）号： | CN108645793B | 公开（公告）日： | 2021-10-15 |
| 发明（设计）人： | 易国霞 | 申请（专利权）人： | 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/01 | 分类号： | G01N21/01;G01N21/94 |
| 代理公司： | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人： | 钟子敏 |
| 地址： | 430000 湖北省武汉市东湖新技术*** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请公开一种样品分析组件、样品分析装置及样品分析方法。所述样品分析组件包括：载台，设有用于放置样品的承载区；检测机构，设于承载区的上方，用于获取样品的膜内异物的位置；扎针机构，设置于载台上，所述扎针机构包括针，所述针用于扎出样品的膜内异物。基于此，本申请能够有利于对膜内异物进行成分分析。 | ||
| 搜索关键词： | 样品 分析 组件 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种样品处理组件，其特征在于，所述样品处理组件包括：载台，所述载台上设有用于放置样品的承载区；检测机构，设置于所述承载区的上方；扎针机构，设置于所述载台上，所述扎针机构包括朝向所述承载区延伸的针。
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