[发明专利]宽温域磁通温度特性测量装置及方法在审
| 申请号： | 201810453002.4 | 申请日： | 2018-05-11 |
| 公开（公告）号： | CN110471009A | 公开（公告）日： | 2019-11-19 |
| 发明（设计）人： | 孙颖莉;刘雷;赵江涛;张鑫;李东;闫阿儒 | 申请（专利权）人： | 中国科学院宁波材料技术与工程研究所 |
| 主分类号： | G01R33/12 | 分类号： | G01R33/12 |
| 代理公司： | 32256 南京利丰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) | 代理人： | 赵世发;王锋<国际申请>=<国际公布>= |
| 地址： | 315201 浙江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种宽温域磁通温度特性测量装置及方法。所述的装置包括：样品室，其包括分别用于放置标准样品(6)、待测样品(7)的恒温腔室(11)、变温腔室(12)；感应信号采集系统，其用于检测待测样品(7)与标准样品(6)的磁通信号差值；温度探测及控制系统，其至少用于对变温腔室(12)的温度进行调控和测量；计算机控制和处理系统(5)，其与所述感应信号采集系统和温度探测及控制系统连接，并至少用于控制所述温度探测及控制系统的工作状态。本发明采用样品翻转的方式产生感应电压信号，采用两赫姆霍兹线圈感应电压信号差示的方法，提高了磁通信号测量的精度，适合测量温度系数优于‑1％％/℃的低温度系数永磁材料。 | ||
| 搜索关键词： | 控制系统 温度探测 感应信号采集 标准样品 待测样品 变温 腔室 测量 测量温度系数 感应电压信号 温度特性测量 线圈感应电压 低温度系数 计算机控制 处理系统 恒温腔室 样品翻转 永磁材料 信号差 样品室 磁通 宽温 通信 调控 检测 | ||
【主权项】：
1.一种宽温域磁通温度特性测量装置，其特征在于包括：/n样品室，其包括分别用于放置标准样品(6)、待测样品(7)的恒温腔室(11)、变温腔室(12)；/n感应信号采集系统，其用于检测待测样品(7)与标准样品(6)的磁通信号差值；/n温度探测及控制系统，其至少用于对变温腔室(12)的温度进行调控和测量；/n计算机控制和处理系统(5)，其与所述感应信号采集系统和温度探测及控制系统连接，并至少用于控制所述温度探测及控制系统的工作状态。/n
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