[发明专利]一种FDD-LTE基站电磁辐射变化周期检测方法有效
| 申请号： | 201810454864.9 | 申请日： | 2018-05-14 |
| 公开（公告）号： | CN108923870B | 公开（公告）日： | 2021-02-09 |
| 发明（设计）人： | 杨万春;吴涛;谭平安;卢泽斌;彭艳芬 | 申请（专利权）人： | 湘潭大学 |
| 主分类号： | H04B17/318 | 分类号： | H04B17/318;H04B17/336;H04B17/345;G01R29/08 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 411100 湖南省*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种FDD‑LTE基站电磁辐射变化周期检测方法，其步骤如下：将FDD‑LTE基站电磁辐射强度时间序列f(t)代入周期变换公式进行变换，获得不同尺度下的周期变换系数W(a)，再将求得的FDD‑LTE基站电磁辐射序列周期变换系数W(a)的平方进行积分，得到周期变换系数W(a)的方差序列Var(a)，然后再将求得的方差序列Var(a)求导，当导数为0时所对应的a，即为FDD‑LTE基站电磁辐射变化存在的主要周期。本发明分析了FDD‑LTE基站电磁辐射变化周期检测的方法，该方法能够有效的对FDD‑LTE基站电磁辐射变化周期进行检测，具有一定的社会效益。 | ||
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【主权项】：
1.一种FDD‑LTE基站电磁辐射变化周期检测方法，其特征在于，包括以下步骤：1)、取FDD‑LTE基站电磁辐射强度时间序列f(t)代入如下周期变换公式进行变换，获得不同尺度下的周期变换系数W(a):![]()
其中：![]()
在上式中，f(t)为FDD‑LTE基站电磁辐射强度时间序列，单位为V/m，t为时间，单位为小时，b为位移系数，取值为6，ω0为变换参数，取值为6.2，其中a为尺度系数，取值为1,2，…，90；2)、将步骤1)中求得的FDD‑LTE基站电磁辐射序列周期变换系数W(a)的平方进行积分，得到周期变换系数W(a)的方差序列Var(a)：![]()
其中，a为尺度系数，取值为1,2，…，90；3)、将步骤2)中的方差序列Var(a)求导，当导数为0时所对应的a，即为FDD‑LTE基站电磁辐射变化存在的主要周期。
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