[发明专利]半导体存储装置、存储器控制器及存储器的监视方法在审

专利信息
申请号: 201810456542.8 申请日: 2018-05-14
公开(公告)号: CN108877859A 公开(公告)日: 2018-11-23
发明(设计)人: 永岛裕二 申请(专利权)人: 拉碧斯半导体株式会社
主分类号: G11C11/4074 分类号: G11C11/4074
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 何欣亭;闫小龙
地址: 日本神奈*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供半导体存储装置、存储器控制器及存储器的监视方法。具有:监视部,间断地执行对存储器的恶化度进行监视的监视处理;存储器存取部,在接收写入指令的情况下向存储器写入加密数据、第1编码及第2编码,并在接收读出指令的情况下或执行监视处理时从存储器读出加密数据、第1编码及第2编码;解码部,对从存储器读出的加密数据进行解码而得到读出数据;以及错误检测部,对读出数据及从存储器读出的第1编码实施错误检测处理而得到第1错误检测结果、或者对从存储器读出的加密数据及第2编码实施错误检测处理而得到第2错误检测结果,监视部在执行监视处理时使解码部的动作停止,并且基于第2错误检测结果求得所述恶化度。
搜索关键词: 存储器 监视 读出 加密数据 错误检测结果 半导体存储装置 存储器控制器 错误检测处理 读出数据 恶化度 解码部 存储器存取部 错误检测部 动作停止 写入指令 解码 写入 指令
【主权项】:
1.一种半导体存储装置,其特征在于:包括存储器和接受写入指令或读出指令并控制所述存储器的存储器控制器,所述存储器控制器具有:监视部,间断地执行对在从所述存储器读出的数据产生的错误的数量所对应的所述存储器的恶化度进行监视的监视处理;存储器存取部,在接收所述写入指令的情况下,向所述存储器写入对成为写入对象的信息数据进行加密的加密数据、基于所述信息数据的错误检测用的第1编码及基于所述加密数据的错误检测用的第2编码,并在接收所述读出指令的情况下或执行所述监视处理时,从所述存储器读出所述加密数据、所述第1编码及所述第2编码;解码部,通过对从所述存储器读出的所述加密数据进行解码而得到解除密码的读出数据;以及错误检测部,通过对所述读出数据及从所述存储器读出的所述第1编码实施错误检测处理而得到第1错误检测结果、或者通过对从所述存储器读出的所述加密数据及所述第2编码实施错误检测处理而得到第2错误检测结果,所述监视部在执行所述监视处理时使所述解码部的动作停止,并且基于所述第2错误检测结果求得所述恶化度。
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