[发明专利]基于多光谱成像系统的纱线颜色测量装置及方法有效
| 申请号： | 201810458769.6 | 申请日： | 2018-05-14 |
| 公开（公告）号： | CN108663120B | 公开（公告）日： | 2020-05-08 |
| 发明（设计）人： | 沈会良;周志敏;忻浩忠 | 申请（专利权）人： | 浙江大学 |
| 主分类号： | G01J3/50 | 分类号： | G01J3/50;G01N21/31 |
| 代理公司： | 杭州求是专利事务所有限公司 33200 | 代理人： | 刘静;邱启旺 |
| 地址： | 310058 浙江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于多光谱成像系统的纱线颜色测量装置及方法。将待训练纱线紧贴且平铺地绕在纱线绕制装置上；通过多光谱成像系统测量绕在纱线绕制装置上的待训练纱线的光谱反射率；通过标准测量仪器测量待训练纱线对应纱线板的标准光谱反射率；根据光谱反射率与标准光谱反射率的映射关系，建立最优核岭回归模型；将待测纱线紧贴且平铺地绕在纱线绕制装置上，利用多光谱成像系统测量其光谱反射率，利用最优核岭回归模型将其光谱反射率映射为对应的标准光谱反射率，从而得到待测纱线颜色。本发明解决了纺织和印染工业中利用分光光度计无法测量短纱线的颜色的缺陷，为短纱线颜色的测量提供了可靠且准确的方案。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 光谱 成像 系统 纱线 颜色 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于多光谱成像系统的纱线颜色测量装置，其特征在于，该测量装置包括多光谱成像系统、标准测量仪器、纱线绕制装置、建模单元和测量单元；所述纱线绕制装置用于将纱线紧贴且平铺地绕在其上；所述多光谱成像系统用于测量绕在纱线绕制装置上的纱线的光谱反射率；所述标准测量仪器用于测量纱线对应纱线板的标准光谱反射率；所述建模单元根据多光谱成像系统测得的光谱反射率与标准测量仪器测得的标准光谱反射率的映射关系，建立最优核岭回归模型；所述测量单元将多光谱成像系统测量的绕在纱线绕制装置上的待测纱线的光谱反射率，利用建模单元得到的最优核岭回归模型，映射为对应的标准光谱反射率，从而得到纱线颜色。
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