[发明专利]一种接口性能测试分析方法、存储介质有效

专利信息
申请号: 201810461282.3 申请日: 2018-05-15
公开(公告)号: CN110489319B 公开(公告)日: 2022-12-13
发明(设计)人: 刘德建;陈丽专;黄雪华;陈铨叙;郑思思;陈有富;李一拉;林琛 申请(专利权)人: 福建天晴数码有限公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 福州市博深专利事务所(普通合伙) 35214 代理人: 林志峥
地址: 350000 福建省福*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 发明提供一种接口性能测试分析方法、存储介质,方法包括:预设服务类型配置表和监控分析模板;在使用接口测试工具对待测接口进行测试时,依据所述服务类型配置表开启对应的服务;被开启的服务依据所述监控分析模板中对应所述待测接口的服务模板项对所述待测接口采集测试周期内的数据,并生成性能数据;依据所述服务模板项对应的指标对所述性能数据进行性能分析,得到对应所述待测接口的性能测试结果。本发明结合接口所用的服务架构,通过预先配置好的服务类型配置表和监控分析模板,利用已有接口测试工具对待测接口进行测试,并给出全面的分析结论。
搜索关键词: 一种 接口 性能 测试 分析 方法 存储 介质
【主权项】:
1.一种接口性能测试分析方法,其特征在于,包括:/n预设服务类型配置表和监控分析模板,所述服务类型配置表中配置有待测接口对应的服务类型,所述监控分析模板中配置有待测接口对应的服务模板项及其指标;/n在使用接口测试工具对待测接口进行测试时,依据所述服务类型配置表开启对应的服务;/n被开启的服务依据所述监控分析模板中对应所述待测接口的服务模板项对所述待测接口采集测试周期内的数据,并生成性能数据;/n依据所述服务模板项对应的指标对所述性能数据进行性能分析,得到对应所述待测接口的性能测试结果。/n
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