[发明专利]一种回转窑表面红外双波段测温方法有效

专利信息
申请号: 201810461889.1 申请日: 2018-05-15
公开(公告)号: CN108896187B 公开(公告)日: 2020-03-17
发明(设计)人: 代少升;谭伟;程亚军;余良兵;舒倩;胡昂;何培亮;聂合文 申请(专利权)人: 重庆邮电大学
主分类号: G01J5/00 分类号: G01J5/00;G01J5/54
代理公司: 重庆市恒信知识产权代理有限公司 50102 代理人: 刘小红;陈栋梁
地址: 400065 重*** 国省代码: 重庆;50
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摘要: 发明请求保护一种回转窑表面双波段测温方法,属于信号处理技术领域。本发明在单波段定标原理的基础上,考虑回转窑现场测温环境,在双波段测温模型中引入了大气衰减系数,结合回转窑扫描测温原理,提出了一种基于回转窑的双波段测温模型。该方法包括,实验室定标分别得到中波扫描仪和长波热像仪测温系统的定标系数。通过回转窑扫描测温原理计算出扫描点距离,然后根据单波段测温原理,使用黑体分别测量出某个扫描点在该扫描距离下在两个波段范围内的大气透过率。将计算的大气透过率代入到双波段测温模型中,得到两个波段的测量比值,根据比值与温度关系反演出扫描点的温度值。本发明考虑了回转窑现场测温实际情况,测温精度高,具有较高应用价值。
搜索关键词: 一种 回转 表面 红外 波段 测温 方法
【主权项】:
1.一种回转窑表面红外双波段测温方法,其特征在于,包括以下步骤:101、使用单波段定标方法对中波扫描仪和长波热像仪进行实验室定标,并拟合出定标数据,得到中波扫描仪的线性响应度K1及定标偏置B1,长波热像仪的线性响应度K2及定标偏置B2;102、使用中波扫描仪和长波热像仪测量出回转窑目标位置的灰度值;103、现场测量以下数据:设备与回转窑的水平距离H、扫描仪到回转窑窑头距离l、回转窑长度L、回转窑的高度h1、扫描仪的高度h2以及确定总的扫描点数N,根据扫描仪软件监测位置和等角度算法,计算出扫描点编号,然后计算出监测位置距离回转窑表面被测位置的实际长度;104、在测温现场根据回转窑表面温度范围,将黑体分别设置在温度Ts和Te,使用中波扫描仪和长波热像仪分别测量出黑体在距离OPi处的系统输出,然后计算出两个波段的大气透过率;105、将计算得大气透过率和定标参数代入计算得到两个波段的输出比值,根据比值与温度的对应关系反演出温度。
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