[发明专利]一种金属/介质超宽带吸收薄膜及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201810466339.9 申请日: 2018-05-09
公开(公告)号: CN108515743B 公开(公告)日: 2020-07-28
发明(设计)人: 焦宏飞;钮信尚;张学敏;马彬;张锦龙;程鑫彬;王占山 申请(专利权)人: 同济大学
主分类号: B32B9/00 分类号: B32B9/00;B32B9/04;B32B15/00;B32B27/36;B32B27/06;B32B37/00
代理公司: 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 代理人: 翁惠瑜
地址: 200092 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种金属/介质超宽带吸收薄膜及其制备方法,所述金属/介质超宽带吸收薄膜包括由下而上依次设置的基板、第一薄膜和第二薄膜,所述第一薄膜(2)为由低折射率介质膜层L和高吸收金属薄层H交替设置构成的金属/介质膜堆,且第一薄膜与基板接触的一侧为低折射率介质膜层L,所述第二薄膜为一单层低折射率介质减反膜AR。与现有技术相比,本发明省略了传统厚层贵金属衬底,增加了薄膜与基板间的附着力和牢固度,选材方法新颖,实现了400nm‑7000nm约7μm的吸收带宽,薄膜平均吸收率大于92%。
搜索关键词: 一种 金属 介质 宽带 吸收 薄膜 及其 制备 方法
【主权项】:
1.一种金属/介质超宽带吸收薄膜,其特征在于,包括由下而上依次设置的基板(1)、第一薄膜(2)和第二薄膜(3),所述第一薄膜(2)为由低折射率介质膜层L和高吸收金属薄层H交替设置构成的金属/介质膜堆,且第一薄膜(2)与基板(1)接触的一侧为低折射率介质膜层L,所述第二薄膜(3)为一单层低折射率介质减反膜AR。
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