[发明专利]一种PET电子学数据处理方法及PET电子学系统有效
申请号: | 201810469097.9 | 申请日: | 2018-05-16 |
公开(公告)号: | CN108665972B | 公开(公告)日: | 2021-03-30 |
发明(设计)人: | 周魏;黄先超;李道武;丰宝桐;王培林;胡婷婷;李晓辉;卢贞瑞;章志明;魏存峰;魏龙 | 申请(专利权)人: | 中国科学院高能物理研究所 |
主分类号: | G16H40/63 | 分类号: | G16H40/63;G16H40/40;A61B6/03 |
代理公司: | 北京君尚知识产权代理有限公司 11200 | 代理人: | 司立彬 |
地址: | 100049 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种PET电子学数据处理方法及PET电子学系统。本方法为:1)利用FPGA接收模拟ASIC芯片的配置数据,配置该模拟ASIC芯片的工作参数,使ASIC芯片的工作状态符合PET成像电子学处理的要求;2)利用FPGA接收模拟ASIC芯片的调试参数,配置ASIC芯片内部要输出的信号测试点,如果ASIC芯片内部的要输出信号测试点的输出信号满足PET电子学处理的要求则进行步骤3);3)将ASIC芯片串行输出的数据转换为N路并行数据,然后提取每路的电荷、时间数据并转换成二进制的电荷、时间数据,然后对N路电荷、时间数据进行N:1的数据预处理后输出。本发明保证了ASIC工作正常可控且可靠。 | ||
搜索关键词: | 一种 pet 电子学 数据处理 方法 系统 | ||
【主权项】:
1.一种PET电子学数据处理方法,其步骤包括:1)利用FPGA接收模拟ASIC芯片的配置数据,FPGA的采集参数配置模块根据所述配置数据配置该模拟ASIC芯片的工作参数,使该模拟ASIC芯片的工作状态符合PET成像电子学处理的要求;2)利用FPGA接收模拟ASIC芯片的调试参数,FPGA的调试参数配置模块根据所述调试参数配置该模拟ASIC芯片内部要输出的信号测试点,如果该模拟ASIC芯片内部的要输出信号测试点的输出信号满足PET电子学处理的要求则进行步骤3),否则修改并重新配置该模拟ASIC芯片的工作参数;3)利用数据获取与处理模块获取该模拟ASIC芯片串行输出的N路电荷、时间数据,并将其转换为N路并行数据,然后提取每路的电荷、时间数据并添加相应的通道编号;然后将每路的电荷、时间数据解码转换成二进制格式的电荷、时间数据,然后对N路电荷、时间数据进行N:1的数据预处理后输出。
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