[发明专利]测量元件及包括此种测量元件的测量装置在审
| 申请号： | 201810475248.1 | 申请日： | 2018-05-17 |
| 公开（公告）号： | CN110501033A | 公开（公告）日： | 2019-11-26 |
| 发明（设计）人： | 陈芳;李宝刚 | 申请（专利权）人： | 艾默生(北京)仪表有限公司 |
| 主分类号： | G01D11/00 | 分类号： | G01D11/00 |
| 代理公司： | 11227 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人： | 王艳江;庄恒玲<国际申请>=<国际公布> |
| 地址： | 102600 北京市大兴*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种测量元件和测量装置。该测量元件包括基体、隔片以及防渗透层，其中，隔片固定地连接至基体，并且在隔片与基体之间限定有密封腔。防渗透层布置在隔片的面对密封腔的内侧面上，并且，防渗透层在隔片的内侧面上至少延伸超过隔片与基体之间的连接区域。所述测量装置包括所述的测量元件。 | ||
| 搜索关键词： | 隔片 防渗透层 测量装置 测量 密封腔 连接区域 地连接 延伸 | ||
【主权项】：
1.一种测量元件，其特征在于包括：/n基体(1)；/n隔片(2)，所述隔片(2)固定地连接至所述基体(1)，并且在所述隔片(2)与所述基体(1)之间限定有密封腔(3)；以及/n防渗透层，所述防渗透层布置在所述隔片(2)的面对所述密封腔(3)的内侧面(21)上，并且，所述防渗透层在所述隔片(2)的所述内侧面(21)上至少连续延伸超过所述隔片(2)与所述基体(1)的连接区域。/n
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