[发明专利]密封构件的异常磨损探测装置和旋转体装置有效
申请号: | 201810475633.6 | 申请日: | 2018-05-17 |
公开(公告)号: | CN109141839B | 公开(公告)日: | 2019-07-05 |
发明(设计)人: | 三嶋大和 | 申请(专利权)人: | 发那科株式会社 |
主分类号: | G01M13/00 | 分类号: | G01M13/00 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种能够更可靠地探测以相对于旋转体滑动的方式进行密封的密封构件的异常磨损的密封构件的异常磨损探测装置和旋转体装置。密封构件的异常磨损探测装置(4)对以相对于旋转体的周面滑动的方式对旋转体的周面进行密封的密封构件的异常磨损进行检测,该密封构件的异常磨损探测装置(4)具备:测量旋转体的旋转时的负荷率的负荷率测量部(41)、测量密封构件的温度的温度测量部(42)以及测量从密封构件放出的气体的浓度的气体浓度测量部(43)中的至少两个测量部;以及判定部(44),其在检测出由至少两个测量部测量出的至少两个测量值低于第一基准值的情况下,判定为异常磨损。 | ||
搜索关键词: | 密封构件 磨损 测量 探测装置 旋转体 旋转体装置 负荷率 滑动 周面 密封 气体浓度测量 测量旋转体 温度测量部 判定部 检测 判定 探测 | ||
【主权项】:
1.一种密封构件的异常磨损探测装置,对以相对于旋转体的周面滑动的方式对所述旋转体的周面进行密封的密封构件的异常磨损进行检测,所述密封构件的异常磨损探测装置具备:测量所述旋转体的旋转时的负荷率的负荷率测量部;测量所述密封构件的温度的温度测量部;测量从所述密封构件放出的气体的浓度的气体浓度测量部;以及判定部,其在将由所述负荷率测量部、所述温度测量部以及所述气体浓度测量部测量出的各测量值与比正常值高的第一基准值及比所述第一基准值高的第二基准值进行比较的结果是检测出至少两个测量值在达到第二基准值之后低于所述第一基准值的情况下,判定为异常磨损。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于发那科株式会社,未经发那科株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201810475633.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种成品鼠标测试设备
- 下一篇:一种锲形锁紧装置试验台