[发明专利]密封构件的异常磨损探测装置和旋转体装置有效

专利信息
申请号: 201810475633.6 申请日: 2018-05-17
公开(公告)号: CN109141839B 公开(公告)日: 2019-07-05
发明(设计)人: 三嶋大和 申请(专利权)人: 发那科株式会社
主分类号: G01M13/00 分类号: G01M13/00
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种能够更可靠地探测以相对于旋转体滑动的方式进行密封的密封构件的异常磨损的密封构件的异常磨损探测装置和旋转体装置。密封构件的异常磨损探测装置(4)对以相对于旋转体的周面滑动的方式对旋转体的周面进行密封的密封构件的异常磨损进行检测,该密封构件的异常磨损探测装置(4)具备:测量旋转体的旋转时的负荷率的负荷率测量部(41)、测量密封构件的温度的温度测量部(42)以及测量从密封构件放出的气体的浓度的气体浓度测量部(43)中的至少两个测量部;以及判定部(44),其在检测出由至少两个测量部测量出的至少两个测量值低于第一基准值的情况下,判定为异常磨损。
搜索关键词: 密封构件 磨损 测量 探测装置 旋转体 旋转体装置 负荷率 滑动 周面 密封 气体浓度测量 测量旋转体 温度测量部 判定部 检测 判定 探测
【主权项】:
1.一种密封构件的异常磨损探测装置,对以相对于旋转体的周面滑动的方式对所述旋转体的周面进行密封的密封构件的异常磨损进行检测,所述密封构件的异常磨损探测装置具备:测量所述旋转体的旋转时的负荷率的负荷率测量部;测量所述密封构件的温度的温度测量部;测量从所述密封构件放出的气体的浓度的气体浓度测量部;以及判定部,其在将由所述负荷率测量部、所述温度测量部以及所述气体浓度测量部测量出的各测量值与比正常值高的第一基准值及比所述第一基准值高的第二基准值进行比较的结果是检测出至少两个测量值在达到第二基准值之后低于所述第一基准值的情况下,判定为异常磨损。
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