[发明专利]一种复合绝缘子内部缺陷的主动红外热像检测装置及方法在审

专利信息
申请号: 201810482651.7 申请日: 2018-05-18
公开(公告)号: CN108693453A 公开(公告)日: 2018-10-23
发明(设计)人: 郭晨鋆;王黎明;马仪;刘立帅;刘洪搏;梅红伟;申元;赵晨龙 申请(专利权)人: 云南电网有限责任公司电力科学研究院;清华大学深圳研究生院
主分类号: G01R31/12 分类号: G01R31/12;G01J5/00
代理公司: 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 代理人: 逯长明;许伟群
地址: 650217 云南省昆*** 国省代码: 云南;53
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摘要: 发明公开了一种复合绝缘子内部缺陷的主动红外热像检测装置及方法,包括可调制光辐射热激励加载装置、红外热像采集装置、控制及数据处理分析装置。控制可调制光辐射热激励加载装置对复合绝缘子施加可控热激励,使复合绝缘子表面形成动态温度场数据;控制红外热像采集装置采集动态温度场数据;利用控制及数据处理分析装置对动态温度场数据进行识别和分析,获取复合绝缘子的内部缺陷的具体情况。因此,本发明提供的复合绝缘子内部缺陷的主动红外热像检测装置及方法,能够解决现有的复合绝缘子缺陷的检测方法灵敏度低,复杂耗时,具有破坏性,检测条件要求高的问题。
搜索关键词: 复合绝缘子 内部缺陷 红外热像检测 动态温度场 数据处理分析 采集装置 红外热像 加载装置 调制光 辐射热 表面形成 检测条件 灵敏度 热激励 可控 耗时 采集 施加 检测 分析
【主权项】:
1.一种复合绝缘子内部缺陷的主动红外热像检测装置,其特征在于,包括可调制光辐射热激励加载装置、红外热像采集装置、控制及数据处理分析装置;所述可调制光辐射热激励加载装置和所述红外热像采集装置分别与所述控制及数据处理分析装置连接;所述可调制光辐射热激励加载装置由光辐射调制电路、供电电源和两支可调制光源组成;所述光辐射调制电路分别与所述控制及数据处理分析装置、所述供电电源以及两支所述可调制光源连接;所述红外热像采集装置包括高精度红外热像仪和数据采集卡;所述高精度红外热像仪与所述数据采集卡连接,所述数据采集卡与所述控制及数据处理分析装置连接;所述控制及数据处理分析装置包括热激励加载控制模块、红外热像数据采集控制模块、红外热图序列处理分析及缺陷识别模块、数据传输模块和数据管理维护模块;所述热激励加载控制模块与所述光辐射调制电路连接;所述红外热像数据采集控制模块与所述数据采集卡连接;所述热激励加载控制模块和所述红外热像数据采集控制模块分别与所述红外热图序列处理分析及缺陷识别模块连接;所述红外热图序列处理分析及缺陷识别模块与所述数据传输模块连接;所述数据传输模块与所述数据管理维护模块连接。
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