[发明专利]绝缘子表面污秽程度测量方法、装置及系统

摘要

本申请提供一种绝缘子表面污秽程度测量方法、装置及系统，通过红外热像法利用绝缘子表面污秽积累分布的不均匀性造成的热物理性质差异带来的相应表面区域的温度变化差异来判断绝缘子表面污秽程度以及分布情况，能够实现对绝缘子表面污秽的在线监测，有利于实现对绝缘子绝缘状况的实时监测，进而在危害出现之前采取必要的措施，此外，目前实验室内进行污闪得一系列研究皆为在绝缘子表面涂污均匀人工污秽，所得试验结果与实际运行绝缘子数据差异较大，根据红外热像测量方法得到的绝缘子表面污秽分布情况指导实验室人工污秽试验，能够在人工污秽于自然污秽之间建立联系，得到能够适用于实际运行绝缘子上污闪规律的数据。

主权项

1.一种绝缘子表面污秽程度测量方法，其特征在于，所述方法包括：获取待测绝缘子表面的红外热图序列；获取得到所述待测绝缘子表面的红外热图序列时，所述待测绝缘子所处环境中的污染物成分信息和空气温湿度信息；根据所述待测绝缘子所处环境中的污染物成分信息和空气温湿度信息，在预设的标准数据库中，筛选出符合所述污染物成分信息和空气温湿度信息的绝缘子表面污秽信息‑红外热图序列对应数据集，其中，所述绝缘子表面污秽信息包括污秽程度信息以及污秽分布信息；根据所述待测绝缘子表面的红外热图序列，以及所述绝缘子表面污秽信息‑红外热图序列对应数据集，确定所述待测绝缘子表面的污秽程度信息以及污秽分布信息。