[发明专利]一种基于傅里叶叠层成像技术的显微镜错位校正方法有效
| 申请号： | 201810486152.5 | 申请日： | 2018-05-21 |
| 公开（公告）号： | CN108957724B | 公开（公告）日： | 2023-03-28 |
| 发明（设计）人： | 夏春秋 | 申请（专利权）人： | 深圳市唯特视科技有限公司 |
| 主分类号： | G02B21/36 | 分类号： | G02B21/36 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市高新技术产业园*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明中提出的一种基于傅里叶叠层成像技术的显微镜错位校正方法，其主要内容包括：全局偏移模型、高分辨率图像的重建和错位校正，其过程为，先初始化重建的高分辨率物体和光瞳函数，然后依次点亮所有的LED，分别生成低分辨率图像，并施加强度约束，接着更新物体函数和光瞳函数，重复以上步骤直到算法收敛，最后直接校正LED阵列的全局偏移直到搜索全局偏移的成本函数达到最小值。本发明解决了以往的傅里叶叠层成像位置修正方法会增加算法复杂度、计算机负载和计算时间的问题，能够快速有效地校正显微镜成像的错位，同时使用的算法简单实用。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 傅里叶叠层 成像 技术 显微镜 错位 校正 方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于傅里叶叠层成像技术的显微镜错位校正方法，其特征在于，主要包括全局偏移模型(一)；高分辨率图像的重建(二)；错位校正(三)。
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