[发明专利]一种利用磁光克尔效应测量反铁磁磁畴分布的方法有效
| 申请号： | 201810493590.4 | 申请日： | 2018-05-22 |
| 公开（公告）号： | CN108710090B | 公开（公告）日： | 2020-07-24 |
| 发明（设计）人： | 周超;许佳;贾孟文;吴义政 | 申请（专利权）人： | 复旦大学 |
| 主分类号： | G01R33/032 | 分类号： | G01R33/032;G01R33/10 |
| 代理公司： | 上海正旦专利代理有限公司 31200 | 代理人： | 陆飞;陆尤 |
| 地址： | 200433 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明属于物理测量技术领域，具体为一种利用磁光克尔效应测量反铁磁磁畴分布的方法。本发明使用一台带有采集数字图像功能的磁光克尔显微镜，测量过程包括：数据采集，即控制作为检偏器的偏振片，使其在消光位置往顺时针与逆时针方向偏离相同角度，分别采集样品表面的两张图像；数据分析，先对采集到的两张图像进行模糊，抹去所有磁畴的信息，只保留样品表面的不均匀的光强的信息，然后分别从两张原图里扣除不均匀光强的贡献，得到两张样品形貌与磁畴信息的混合信号；然后经过相减等处理，得到样品表面的反铁磁磁畴的分布。本发明方法成本较低，并为反铁磁材料的研究提供许多可能的方向。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 利用 克尔 效应 测量 反铁磁磁畴 分布 方法 | ||
【主权项】：
1.一种利用磁光克尔效应测量反铁磁磁畴分布的方法，一台带有采集数字图像功能的磁光克尔显微镜，其特征在于，包括两个阶段：数据采集与数据分析，其中：所述数据采集，主要是控制作为检偏器的偏振片，使其在消光位置往顺时针与逆时针方向偏离相同角度，分别采集样品表面的两张图像；所述的数据分析，先用高斯滤镜对前面采集到的两张图像分别进行模糊，抹去所有磁畴的信息，只保留样品表面的不均匀的光强的信息，然后分别从两张原图里扣除不均匀光强的贡献，得到两张样品形貌与磁畴信息的混合信号；然后再将这两张图像相减，并且除以它们的和，以进一步扣除样品形貌的信息，只留下了反铁磁磁畴的信号，得到样品表面的反铁磁磁畴的分布。
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