[发明专利]一种超高真空下样品热处理工艺的自动化温度控制系统及方法在审

专利信息
申请号: 201810494285.7 申请日: 2018-05-22
公开(公告)号: CN108427453A 公开(公告)日: 2018-08-21
发明(设计)人: 张翼;宗君宇;周凌杰;谢学栋 申请(专利权)人: 南京大学
主分类号: G05D23/27 分类号: G05D23/27;G05B11/42
代理公司: 南京知识律师事务所 32207 代理人: 王珒
地址: 210023 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种超高真空下样品热处理工艺的自动化温度控制系统及方法,属于温度控制领域。它包括光学测温仪和真空规,还包括计算机和电流源,所述的光学测温仪和真空规位于超高真空样品加热设备内,红外测温仪和真空规与计算机连接,计算机与电流源连接,电流源与样品连接。利用温度对加热样品电流的负反馈,从而实现对温度简单,快捷,精准的控制,主要利用RS232串口连接各个仪器,然后计算光学测温仪测量得到的样品温度与事先设定好的样品温度之差,通过PID算法反馈设定电流源给样品所加电流。尽管不同的样品由于尺寸,制作等原因,加热所需电流各不相同,但本发明都可以在半分钟内将样品温度精确控制到设定温度1℃以内。
搜索关键词: 电流源 超高真空 测温仪 真空规 温度控制系统 热处理工艺 自动化 红外测温仪 计算机连接 加热样品 样品加热 负反馈 加电流 计算机 加热 测量 反馈 制作
【主权项】:
1.一种超高真空下样品热处理工艺的自动化温度控制系统,包括光学测温仪和真空规,其特征在于,还包括计算机和电流源,所述的光学测温仪安装在超高真空样品加热设备的观察窗上,样品和真空规均位于超高真空样品加热设备内,光学测温仪和真空规与计算机连接,计算机与电流源连接,电流源与样品连接。
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