[发明专利]保护带的粘贴方法和保护带粘贴装置在审
申请号: | 201810498742.X | 申请日: | 2018-05-23 |
公开(公告)号: | CN108987325A | 公开(公告)日: | 2018-12-11 |
发明(设计)人: | 中村胜;松冈祐哉 | 申请(专利权)人: | 株式会社迪思科 |
主分类号: | H01L21/683 | 分类号: | H01L21/683 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 于靖帅;乔婉 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 提供保护带的粘贴方法和保护带粘贴装置,将保护带的前端部从剥离纸可靠地剥离并将保护带可靠地粘贴在晶片上。该方法将具有通过紫外线的照射而降低粘接力的粘接层的保护带粘贴在晶片上,包含如下工序:弯折工序,使大小与晶片的大小对应的保护带的粘接层与剥离纸面对而粘贴,使剥离纸弯折并拉拽而将从剥离纸剥离的保护带的前端部粘贴在晶片上;粘贴工序,在实施了弯折工序之后,利用辊对粘接层的相反侧进行按压而使保护带的粘接层与晶片紧贴,进一步拉拽剥离纸,将保护带从剥离纸完全剥离而粘贴在晶片上;和剥离起点形成工序,对保护带的通过实施弯折工序而开始从剥离纸剥离的前端部的区域呈点状照射紫外线而形成剥离起点。 | ||
搜索关键词: | 保护带 粘贴 剥离纸 晶片 粘接层 弯折 前端部 剥离 保护带粘贴装置 剥离起点 紫外线 按压 点状照射 形成工序 相反侧 粘接力 紧贴 照射 | ||
【主权项】:
1.一种保护带的粘贴方法,将具有通过紫外线的照射而降低粘接力的粘接层的保护带粘贴在晶片上,其中,该保护带的粘贴方法具有如下的工序:弯折工序,使大小与晶片的大小对应的保护带的粘接层与剥离纸面对而进行粘贴,将该剥离纸弯折并进行拉拽,将从该剥离纸剥离的保护带的前端部粘贴在晶片上;粘贴工序,在实施了该弯折工序之后,利用辊对该粘接层的相反侧进行按压而使保护带的粘接层与晶片紧贴,并且进一步拉拽该剥离纸,将该保护带从该剥离纸完全剥离而粘贴在晶片上;以及剥离起点形成工序,对保护带的通过实施该弯折工序而开始从该剥离纸剥离的前端部的区域预先呈点状照射紫外线而形成剥离起点。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造