[发明专利]基于波形匹配的石英晶片研磨控制与在线测频方法在审

专利信息
申请号: 201810502284.2 申请日: 2016-01-22
公开(公告)号: CN108614153A 公开(公告)日: 2018-10-02
发明(设计)人: 郭彬;潘凌锋;陈一信;陈浙泊 申请(专利权)人: 浙江大学台州研究院
主分类号: G01R23/02 分类号: G01R23/02;B24B37/00
代理公司: 杭州天昊专利代理事务所(特殊普通合伙) 33283 代理人: 董世博
地址: 318001 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了基于波形匹配的石英晶片研磨控制与在线测频方法,能在石英晶片研磨过程中稳定实时地测量从5M到70MHZ的频率;本系统可以显示晶片研磨生产过程中的各种状态并提出建议,在线测频过程中实时监控石英晶片研磨状态,若出现异常情况实时关停研磨机,防止超频事件的发生,用户可根据触摸屏上显示的这些状态有效提高生产效率;加入“跳频约束策略”彻底解决ALC系统“在某些频段发生测频值跳变”的问题;提供晶片研磨实时平均频率、研磨速率和散差等多样化统计参数,为更换研磨砂和维修研磨盘面提供科学依据,解决ALC系统“无法监控研磨机状态”的缺陷。
搜索关键词: 研磨 石英晶片 测频 晶片研磨 研磨机 匹配 平均频率 生产过程 生产效率 实时监控 统计参数 触摸屏 速率和 研磨砂 频段 超频 盘面 跳变 跳频 测量 监控 维修
【主权项】:
1.基于波形匹配的石英晶片研磨控制与在线测频方法,其特征在于,系统通电开机后,进行外设初始化配置,外设初始化结束后,提示系统开始通电工作;系统进入硬件自检,硬件自检结果进行显示;硬件自检未通过则等待用户进行检修后重新进行自检;通过硬件自检后则进入数据初始化流程;数据初始化结束后系统进入待机状态;系统在待机状态下实时监测控制及设置按钮的操作,并根据控制及设置按钮的操作,作出控制动作或者读取设置参数后,根据设置的参数作出控制动作;所述控制及设置按钮的操作包括参数设置操作,系统实时监控用户参数设置操作状态,一旦进入参数设置操作状态,对系统运行过程中的扫频参数、波形匹配参数、谐振频率显示参数和谐振频率约束参数进行设置;扫频参数包括单位时间内扫频次数、扫频幅值、扫频速度、扫频步进;波形匹配参数包括搜索宽度、峰值约束;谐振频率显示参数包括频率校准;谐振频率约束参数包括极差设置;所述控制及设置按钮的操作还包括进入单次测频流程的操作、读取控制策略参数的操作、读取在线测频参数的操作、进入修盘流程操作和进入在线测频流程的操作;单次测频流程的操作包括:单次测频流程根据扫频参数的设置对石英晶片进行谐振频率测试,单次测频流程对系统的AD采样数据的处理,通过波形匹配方法、数据平滑处理和求最大值方法分析得出晶片的静态谐振频率、标准差、实时峰高、谐振线宽、单位时间内的谐振次数,测频结果发送进行显示;在线测频流程包括:首先设定在线测频中的扫频参数;随后判断AD采集数据个数是否达到设定值,如果没达到,则继续等待直到AD采集数据个数达到设定值,如果达到,则进行谐振频率搜索方法;所述谐振频率搜索方法通过波形匹配方法、数据平滑处理和求最大值方法来处理AD采样的数据,获取谐振频率相关的统计信息;所述谐振频率相关的统计信息包括谐振波形搜索是否成功,获取谐振波形的峰峰值、谐振波形峰值所在的步进点、谐振线宽、谐振次数信息;经过谐振频率搜索方法处理后,需要判断谐振频率是否搜索成功,如果搜索不成功,说明本次采集到的数据不是石英晶振谐振时的数据,则等待下一次的数据处理,如果搜索成功,则判断谐振波形的峰峰值是否大于设定值,如果不满足,说明本次采集到的数据不是石英晶振谐振时的数据,则等待下一次的数据处理,如果满足,则判断当前谐振频率是否满足频宽约束条件,如果不满足,则等待下一次的数据处理,如果满足,则计算谐振平均频率及相关的统计量信息,将计算得到的统计量信息与设定的约束条件进行比较,如果满足这些约束条件,则将谐振平均频率值及相关统计信息发送显示,否则只要有一项条件不满足要求,则停止在线测频流程,进入待机模式。
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