[发明专利]一种绘制Smith圆图的圆图尺有效

专利信息
申请号: 201810507535.6 申请日: 2018-05-24
公开(公告)号: CN108528109B 公开(公告)日: 2021-03-23
发明(设计)人: 张旭春;杨潇;谢军伟;廖臻亨;冯晓宇 申请(专利权)人: 中国人民解放军空军工程大学
主分类号: B43L13/00 分类号: B43L13/00
代理公司: 西安弘理专利事务所 61214 代理人: 曾庆喜
地址: 710021 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开的绘制Smith圆图的圆图尺,包括第一圆图尺、第二圆图尺、第三圆图尺和第四圆图尺,第一圆图尺、第二圆图尺和第三圆图尺均为直尺,第四圆图尺为圆环尺,第一圆图尺和第二圆图尺上均刻有反射系数刻度线、电抗值刻度线和电阻值刻度线,第三圆图尺上刻有电抗值刻度线,第四圆图尺上由内而外依次刻有反射系数相位刻度线、向负载电长度刻度线及向信号源电长度刻度线,第二圆图尺的一端活动连接于第一圆图尺上,第二圆图尺的另一端与第三圆图尺活动连接,第一圆图尺的一端活动连接于第四圆图尺上,解决了现有绘制Smith圆图的软件难度高且无法适应于教学的问题。
搜索关键词: 一种 绘制 smith 圆图尺
【主权项】:
1.一种绘制Smith圆图的圆图尺,其特征在于,包括第一圆图尺(1)、第二圆图尺(2)、第三圆图尺(3)和第四圆图尺(4),所述第一圆图尺(1)、第二圆图尺(2)和第三圆图尺(3)均为直尺,所述第四圆图尺(4)为圆环尺,所述第一圆图尺(1)和第二圆图尺(2)上均刻有反射系数刻度线、电抗值刻度线和电阻值刻度线,所述第三圆图尺(3)上刻有电抗值刻度线,所述第四圆图尺(4)上由内而外依次刻有反射系数相位刻度线、向负载电长度刻度线及向信号源电长度刻度线,所述第二圆图尺(2)的一端活动连接于第一圆图尺(1)上,所述第二圆图尺(2)的另一端与第三圆图尺(3)活动连接,所述第一圆图尺(1)的一端活动连接于第四圆图尺(4)上。
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