[发明专利]一种利用光学标志对高精度平面进行平面度测量的方法在审
| 申请号： | 201810508172.8 | 申请日： | 2018-05-24 |
| 公开（公告）号： | CN108548506A | 公开（公告）日： | 2018-09-18 |
| 发明（设计）人： | 肖利峰;黄桂平;张体强 | 申请（专利权）人： | 郑州辰维科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/30 | 分类号： | G01B11/30 |
| 代理公司： | 郑州天阳专利事务所(普通合伙) 41113 | 代理人： | 聂孟民 |
| 地址： | 450001 *** | 国省代码： | 河南;41 |
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| 摘要： | 本发明涉及利用光学标志对高精度平面进行平面度测量的方法，可有效解决对高精度平面的测量问题，方法是，在被测平面周边均匀粘贴编码反光标志，光学投点器投射光学标志点方向与被测平面法线方向夹角≤10度，投点器投射的光学标志点覆盖被测天线表面并聚焦清晰；用测量相机对被测平面进行摄影，移动相机进行多角度、多照片摄影；通过摄影测量软件对摄影的照片进行坐标位置计算，得到光学投点器投射到被测平面上的光学标志点坐标；利用测量软件对测量光学标志点坐标数据进行分析，将全部光学标志点点云直接进行平面拟合，然后在软件拟合统计对话框中查看平面度，即可得到被测平面的平面精度。本发明方法简单易用，测量精度高，省时省力。 | ||
| 搜索关键词： | 光学标志 高精度平面 投射 点器 平面度测量 对话框 摄影 平面法线方向 坐标位置计算 测量精度高 测量光学 测量软件 测量问题 测量相机 反光标志 均匀粘贴 平面拟合 平面周边 摄影测量 天线表面 移动相机 有效解决 坐标数据 标志点 点坐标 平面的 平面度 拟合 省时 省力 聚焦 清晰 覆盖 统计 分析 | ||
【主权项】：
1.一种利用光学标志对高精度平面进行平面度测量的方法，其特征在于，包括以下步骤：一、在被测平面上投射光学标志点，方法是：1）、在被测平面周边均匀粘贴编码反光标志；2）、光学投点器投射光学标志点方向与被测平面法线方向夹角≤10度，以防光学标志点变形过大，影响测量精度；3）、接通光学投点器电源，点亮光学投点器聚焦灯，投点器投射的光学标志点覆盖被测天线表面并聚焦清晰；4）、打开光学投点器光学引闪开关，目的是使测量相机闪光灯同步引闪光学投点器；二、摄影：用测量相机对被测平面进行摄影，测量相机闪光灯发出的光线被光学投点器上光学接收器接收，瞬时引闪光学投点器，使之工作投射高强度光学标志点，由此完成一张照片拍摄；移动相机进行多角度、多照片摄影；三、计算光学标志点坐标：通过摄影测量软件对摄影的照片进行坐标位置计算，得到光学投点器投射到被测平面上的光学标志点坐标；四、拟合光学标志点平面：利用测量软件对测量光学标志点坐标数据进行分析，将全部光学标志点点云直接进行平面拟合，然后在软件拟合统计对话框中查看平面度，即可得到被测平面的平面精度。
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