[发明专利]基于衍射重叠迭代算法的应力测量装置和方法有效
申请号: | 201810515582.5 | 申请日: | 2018-05-25 |
公开(公告)号: | CN108760112B | 公开(公告)日: | 2020-06-30 |
发明(设计)人: | 朱健强;程北;张雪洁;刘诚 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
主分类号: | G01L1/24 | 分类号: | G01L1/24 |
代理公司: | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 | 代理人: | 张宁展 |
地址: | 201800 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 一种基于衍射重叠迭代算法的应力测量装置和方法,该装置包括光源、起偏器、检偏器、两个四分之一波片、滤波器、载物台、两个透镜、夹持有衍射物体的平移台、CCD和采集电脑。测量方法是将待测光学元件置于圆偏振平行光场中,旋转检偏器,分别记录两组不同偏振状态下物体的衍射图样。利用衍射重叠迭代算法重建两组光场的振幅和相位,结合琼斯矩阵分析,提取出待测元件的等差线、等和线和等倾线,并利用元件光弹参数得到定量的应力信息。本发明充分利用PIE的相位测量优势,将等倾线和等和线均从相位信息中精确提取出来,适用于元件应力的全场测量,对光学元件应力测量技术的发展具有重要的实际意义。 | ||
搜索关键词: | 基于 衍射 重叠 算法 应力 测量 装置 方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于衍射重叠迭代算法的应力测量装置,其特征在于:包括激光器(1),沿该激光器(1)的激光输出的光路方向依次是起偏器(2)、第一四分之一波片(3)、滤波器(4)、第一透镜(5)、载物台(6)、第二透镜(7)、第二四分之一波片(8)、检偏器(9)、夹持有衍射物体的平移台(10)、CCD(11)、电脑(12),所述的CCD(11)的输出端和电脑(12)的输入端相连,所述的电脑(12)的输出端与所述的载物台(6)的控制端相连,所述的起偏器(2)、第一四分之一波片(3)、第二四分之一波片(8)、检偏器(9)可绕光轴旋转,所述的滤波器(4)的小孔位于所述的第一透镜(5)的前焦点,所述的第二透镜(7)的后焦点位于所述的第二四分之一波片(8)和检偏器(9)之间。
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